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          LABWINDOWS在汽車電噴模塊檢測(cè)中的應(yīng)用

          作者:■Motorola(中國(guó))電子有限公司 張明 時(shí)間:2004-11-03 來源:電子設(shè)計(jì)應(yīng)用2003年第6期 收藏

          編者按:本文介紹了通過使用美國(guó)NI公司的LABWINDOWS軟件和相應(yīng)的硬件設(shè)施(NI-5112、PXI-8156B、NI-5411、PXI-6070E、NI-2503),完成對(duì)汽車電噴(EFI)輸入/輸出口的硬件測(cè)試及將測(cè)試數(shù)據(jù)生成TXT文件存盤的方法。同時(shí)通過編程完成了對(duì)設(shè)定工況下的功能測(cè)試,從而確保了產(chǎn)品的可靠性。
          引言
          EFI測(cè)試系統(tǒng)由NI測(cè)試儀、模擬負(fù)載箱、電源、條碼掃描和測(cè)試夾具五部分組成。測(cè)試人員手動(dòng)將模塊放入夾具,并將條碼掃描以后,系統(tǒng)將自動(dòng)執(zhí)行模塊功耗、輸入端對(duì)地電阻、A/D采樣值、輸出端漏電流、FET鉗位電壓、E2PROM校驗(yàn)等多項(xiàng)檢驗(yàn)。同時(shí)記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)及通過/失敗狀態(tài),并將數(shù)據(jù)自動(dòng)存儲(chǔ)為TXT文件用于將來的數(shù)據(jù)分析。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/3688.htm

          圖1 EFI 測(cè)試系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)

          硬件結(jié)構(gòu)
          EFI 測(cè)試系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)參見圖1。模塊的檢測(cè)包括輸入端口硬件、輸出端口硬件及特定工況下的功能檢測(cè)三部分。 為完成輸入端口的硬件檢測(cè),我們選用了PXI-6070E多功能卡進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,它有64路12位模擬量輸入,2路模擬量輸出,及八條數(shù)字I/0端口。端口切換選用了NI-2503開關(guān)卡,它是雙線24位開關(guān)卡,負(fù)責(zé)將被測(cè)試端口與采集卡PXI-6070E相連。
          同樣,對(duì)輸出端的硬件切換由另一塊NI-2503卡完成。數(shù)據(jù)采集使用NI-5112示波器卡完成。它的100MHz頻寬可以確保對(duì)點(diǎn)火及噴油脈沖的采集,采集到的數(shù)據(jù)將會(huì)放到指定的緩沖區(qū)中。通過進(jìn)行數(shù)據(jù)分析,我們就可以得到輸出信號(hào)脈沖的最大值及頻率值。
          完成硬件的檢測(cè)后,同樣利用BOOTSTRAP模式,將標(biāo)定數(shù)據(jù)送入模塊E2PROM中,然后將芯片切換到單片模式。模擬正常工況檢測(cè)模塊工作狀態(tài),進(jìn)而完成特定工況下的功能檢測(cè)。通過以上的測(cè)試,確保了模塊的可靠性。

          軟件設(shè)計(jì)
          在擁有計(jì)算機(jī)及相應(yīng)硬件卡的環(huán)境下,LABWINDOWS以其基于C語(yǔ)言的開發(fā)環(huán)境,良好的用戶界面(如圖2所示)、強(qiáng)大的庫(kù)函數(shù)和方便快捷的調(diào)試手段,使設(shè)計(jì)者能以最快的速度設(shè)計(jì)、調(diào)試和開發(fā)實(shí)際的測(cè)試系統(tǒng),大大降低了工作量。
          模塊檢測(cè)系統(tǒng)軟件可以工作在三種模式下:硬件診斷模式;功能測(cè)試模式;EOL測(cè)試模式。

          圖2 LABWINDOWS良好的用戶界面


          對(duì)輸入端口的硬件檢測(cè),可以通過調(diào)用NI-2503,NI-5112及PXI-6070E的驅(qū)動(dòng)函數(shù),來非常方便地完成。
          芯片的A/D采樣值及輸出端口的硬件檢測(cè),需要下載專用測(cè)試程序(使用匯編語(yǔ)言編寫,約1KB)。利用軟件編程, 首先要進(jìn)入68HC11的BOOTSTRAP模式,然后將專用測(cè)試程序下載到芯片。通過調(diào)用專用測(cè)試程序的子程序,可以完成包括讀/寫芯片RAM、E2PROM區(qū),校驗(yàn)RAM、E2PROM區(qū),A/D采樣值讀取,設(shè)定PWM輸出脈沖以及校驗(yàn)版本號(hào)等多項(xiàng)功能。
          功能測(cè)試時(shí),使芯片工作在單片模式,通過調(diào)用NI-5411任意波形發(fā)生器驅(qū)動(dòng)函數(shù)來模擬轉(zhuǎn)速信號(hào)的60-2波形,同時(shí)輸入相應(yīng)的電壓信號(hào),模擬各傳感器信號(hào)輸入,完成特定工況下的功能測(cè)試。
          所有測(cè)試結(jié)果將會(huì)存入到指定的文件中,用于統(tǒng)計(jì)CPK及數(shù)據(jù)分析。

          分析評(píng)價(jià)
          通過以上實(shí)際應(yīng)用,利用LABWINDOWS軟件開發(fā)的測(cè)試系統(tǒng)具有以下顯著優(yōu)點(diǎn):
          1. 加快了系統(tǒng)的開發(fā)周期,降低了開發(fā)難度。使用LABWINDOWS可以方便地調(diào)用硬件驅(qū)動(dòng)程序及功能函數(shù),降低了工作強(qiáng)度,加速了開發(fā)進(jìn)程。
          2. 減少了測(cè)試周期。使用LABWINDOWS,使數(shù)據(jù)傳輸速度及測(cè)量時(shí)間得到提高,減少了產(chǎn)品的測(cè)量時(shí)間,每個(gè)模塊的測(cè)量時(shí)間小于50s。
          3. 具有很高的通用性。使用相同的硬件環(huán)境,僅對(duì)軟件進(jìn)行微調(diào),就可以測(cè)量ECS、DIS等系列產(chǎn)品?!?/p>



          關(guān)鍵詞: Motorola 模塊

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