NI將于4月主辦第二屆“設計、驗證及測試論壇”

美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）宣布主辦第二屆“設計、驗證及測試論壇” （Design Validation Test Forum，即DVTF 2005）。延承2004年第一屆DVTF的成功之勢，本屆論壇將于2005年4月15日在上海國際會議中心舉行，NI誠邀行業(yè)內(nèi)外相關領域的多家優(yōu)秀企業(yè)，如英特爾（Intel）、科梁科技（AEETEK）等共同參與，為廣大測試測量行業(yè)的工程技術人員提供一個絕佳的學習與交流平臺。

主辦商負責人，NI中國分公司技術市場經(jīng)理朱君女士表示：“虛擬儀器技術一直與最尖端的商業(yè)科技密不可分，為工程師們和科學家們提供更強大的工具，完成測試測量和自動化工作。在此次活動中，NI攜手其他行業(yè)先鋒共同展示最新技術，希望能夠提供一個學習的平臺來幫助用戶解決實際應用中的挑戰(zhàn)?！?/p>

此次論壇將分為熱點技術專題與實時應用專題同時進行。10余場內(nèi)容豐富的專題研討會，現(xiàn)場的產(chǎn)品展示，與各參展商和行業(yè)內(nèi)人士的面對面交流，必將使您不虛此行，絕對是不容錯過的行業(yè)盛會！

熱點技術專題為設計、測試以及自動化行業(yè)的軟/硬件工程師、以及希望學習測試測量行業(yè)發(fā)展趨勢和最新技術的專業(yè)人士而度身定制，專題包括：最新總線標準—PCI Express, 了解如何運用這一技術來減少測試工作的時間，并解決新的應用問題；運用Microsoft.NET技術來開發(fā)測試及測量應用；運用了LabVIEW和FPGA的NI最新RIO技術，使您自定義測量硬件電路，等。實時應用專題針對希望搭建一個具有魯棒性、可靠性和確定性的測量、控制及自動化系統(tǒng)的專業(yè)人士，在這一主題的論壇中，您將了解到NI及其它行業(yè)專家為測量及控制系統(tǒng)所提供的實時平臺。

多年來，NI依托其旗艦產(chǎn)品LabVIEW圖形化開發(fā)環(huán)境和全系列的模塊化硬件，為世界各地的用戶提高生產(chǎn)效率并降低成本。此次NI中國聯(lián)合其他行業(yè)先鋒舉辦技術論壇，也是為了更好地服務于本地用戶，提供最大限度的支持。本次活動由《電子產(chǎn)品世界》雜志承辦，請登陸www.edw.com.cn/dvtf.htm，或致電010-68578429報名參與。