不斷演進的光通信技術(shù)

測試測量行業(yè)一直在經(jīng)歷網(wǎng)絡(luò)設(shè)備和元器件制造商近幾年來的類似發(fā)展周期。不久前，測試行業(yè)內(nèi)面臨的最大挑戰(zhàn)還是提高生產(chǎn)能力，縮短長達數(shù)月的元器件供貨周期。而目前, 情況已發(fā)生了巨大的變化, 保持不變的是測試測量在實現(xiàn)下一代技術(shù)開發(fā)中發(fā)揮的獨特作用。這種作用也為測試設(shè)備供應(yīng)商提供了一個獨特的視角，來考察光通信市場中出現(xiàn)的新趨勢。
現(xiàn)在，電信行業(yè)衰退情況已經(jīng)改善，出現(xiàn)了許多復蘇的征兆。首先，業(yè)務(wù)供應(yīng)商市場已經(jīng)穩(wěn)定；運營商負債正在下降，資本支出占收入的比例正達到穩(wěn)定的14%。此外，家庭采用寬帶技術(shù)的數(shù)量正在增長，為運營商帶來了新的收入渠道。在城域網(wǎng)邊緣審慎進行的部分建設(shè)也在推進。鑒于行業(yè)正在適當?shù)貜吞K，我們可以預(yù)測一下今后的關(guān)鍵發(fā)展趨勢。
第一個趨勢與業(yè)務(wù)創(chuàng)新有關(guān)。很明顯，數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)是未來收入增長的關(guān)鍵，但這些業(yè)務(wù)必須能夠盈利。因此，業(yè)務(wù)供應(yīng)商正在部署下一代SDH設(shè)備(支持GFP, VCAT和LCAS協(xié)議)，允許在當前的SDH/SONET基礎(chǔ)設(shè)施上傳送數(shù)據(jù)。在更高層上，這些數(shù)據(jù)分組日益通過MPLS核心網(wǎng)絡(luò)進行路由，而在邊緣仍采用ATM傳統(tǒng)技術(shù)。測試這些下一代網(wǎng)絡(luò)的需求在明顯增長，其應(yīng)用范圍包括檢驗電信級以太網(wǎng)及評估內(nèi)容交換和安全。這些新協(xié)議可望以優(yōu)質(zhì)服務(wù)實現(xiàn)安全的數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)。
當然這些下一代設(shè)備類型還需要光通信設(shè)備的創(chuàng)新。人們一直希望降低光通信器件的尺寸和成本，同時提高靈活性，這導致了具有高速串行接口的可插拔光器件的出現(xiàn)。
這一器件的發(fā)展趨勢有兩個結(jié)果。第一個是電接口信號，即使是集成電路之間的電接口信號，也在采用具有嵌入式時鐘的“電信類”串行協(xié)議。這些高速信號有的超過了10Gb/s，是麥克斯韋方程與摩爾定律的交匯點，要求相應(yīng)地測量精確抖動、誤碼率和進行S參數(shù)分析。數(shù)字電路設(shè)計人員現(xiàn)在必須適應(yīng)曾經(jīng)單純面向電信和微波設(shè)計人員的這些技術(shù)?，F(xiàn)在已有許多為這些應(yīng)用定制的測試產(chǎn)品，某些產(chǎn)品為提取抖動或S參數(shù)提供了單鍵分析功能。
器件集成的第二個結(jié)果是，光接口設(shè)備和電接口設(shè)備合并到尺寸日益降低的封裝中。這推動了采用非常精確的數(shù)學模型的需求，包括構(gòu)成器件的所有子器件的參數(shù)變量。然后，可以使用器件參數(shù)極限模擬整個器件，如收發(fā)機或光放大器。對于采用這些技術(shù)進行模型提取和仿真的發(fā)展趨勢，某些模擬已經(jīng)擴展到鏈路級或系統(tǒng)級。經(jīng)濟效益是顯而易見的。測試可以集中在元器件級，用仿真代替必須在系統(tǒng)級進行的大量測試組合。這并不會完全消除系統(tǒng)級測試，但會明顯減少系統(tǒng)級測試。全參數(shù)分析儀為光器件提供了與S參數(shù)相當?shù)膮?shù)，這種分析儀是為滿足這一趨勢而開發(fā)的新型測試產(chǎn)品。建模和仿真的興起，說明了元器件行業(yè)的完善程度正在不斷提高。
業(yè)界正在進入的復蘇期將完全不同于20世紀90年代末的繁榮發(fā)展期。業(yè)內(nèi)已經(jīng)實現(xiàn)重大轉(zhuǎn)型，從把重點放在容量和帶寬上，轉(zhuǎn)向服務(wù)和設(shè)備創(chuàng)新的最新方向上。電信行業(yè)的廠商已經(jīng)出現(xiàn)震蕩，能夠生存下來的將是認識到新模式、并找到新的增值途徑的廠商。在實現(xiàn)這些新型解決方案中，測試和測量將一如既往地發(fā)揮關(guān)鍵作用?！?BR>