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          一種數(shù)字IC測試系統(tǒng)的設(shè)計

          作者:西安交通大學(xué) 廉海濤 張克農(nóng) 王紅雨 趙云鵬 常羽飛 時間:2004-07-21 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏
          摘  要: 給出一種數(shù)字集成電路(IC)測試系統(tǒng)的軟硬件設(shè)計方案。該系統(tǒng)基于自定義總線結(jié)構(gòu),可測試寬范圍電平。

          關(guān)鍵詞: 數(shù)字集成電路測試;功能測試

          隨著數(shù)字集成電路IC的廣泛應(yīng)用,測試系統(tǒng)就顯得越來越重要。在網(wǎng)絡(luò)化IC可靠性試驗及測試系統(tǒng)項目中,需要檢驗?zāi)承┚哂袑掚娖椒秶能娪脭?shù)字IC芯片,而市場上常見的中小型測試系統(tǒng)可測電平范圍達不到要求,而大型測試系統(tǒng)價格昂貴。本文介紹了為此項目研制的一種數(shù)字IC測試系統(tǒng),可測電平范圍達


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