rSRAM消除“軟錯誤”對電子系統(tǒng)的威脅 作者:eaw 時間:2005-04-28 來源:eaw 加入技術(shù)交流群 掃碼加入和技術(shù)大咖面對面交流海量資料庫查詢 收藏 意法半導(dǎo)體(ST)公布的一項新技術(shù)rSRAM,完全可以消除近年來不斷困擾電子設(shè)備制造商的 “軟錯誤”難題。由于該技術(shù)對標(biāo)準(zhǔn)SRAM存儲單元的改進方法是在單元結(jié)構(gòu)內(nèi)以垂直方式增裝附加電容器,因此,芯片面積以及制造成本都不會受到較大的影響。www.st.com
評論