測試領(lǐng)域新技術(shù)的發(fā)展
測試是檢驗測試對象的功能、性能是否滿足使用要求并及時發(fā)現(xiàn)問題的重要而有效手段,一般而言,在產(chǎn)品的研制、生產(chǎn)和使用維護的全壽命過程中都離不開測試技術(shù)和測試裝備,它們是產(chǎn)品研制過程中的重要手段,是產(chǎn)品制造過程中的質(zhì)量保證工具,同時也是產(chǎn)品維修保障體系的關(guān)鍵要素。測試技術(shù)是確保產(chǎn)品“可靠性、可維修性、可保障性”的重要支柱,是產(chǎn)品全壽命周期的測試、維護、維修保障的技術(shù)手段;測試儀器及由各種測試儀器組成的測試系統(tǒng)則是測試技術(shù)的最終體現(xiàn)。隨著測試需求的提高和應用的發(fā)展,尤其是軟硬件技術(shù)和測試技術(shù)手段的發(fā)展,近年來在測試領(lǐng)域中新的技術(shù)得到了快速的發(fā)展:如各種新型的儀器總線的相繼推出和應用,小型化、合成化和綜合化的儀器不斷涌現(xiàn),綜合的、通用化的自動化測試系統(tǒng)和測試與診斷一體化系統(tǒng)的蓬勃發(fā)展,遠程測試與維修診斷技術(shù)、內(nèi)裝自測試技術(shù)、綜合測試與診斷軟件平臺技術(shù)等在不斷地完善和應用。
測試儀器及先進的測試總線技術(shù)
根據(jù)行業(yè)的應用特點,測試儀器可以分為基礎(chǔ)測量儀器、合成儀器、微波/毫米波儀器等等。針對通用測試、故障診斷、綜合保障系統(tǒng)的需求,業(yè)內(nèi)進一步開發(fā)并完善了基于VXI/PXI/LXI儀器總線的基礎(chǔ)測量儀器系列型譜,在機箱、控制器、高速數(shù)采、高端示波器、高速I/O、邊緣掃描、微波儀器以及通訊測量儀器等方面得到進一步拓展并完善,在各種形式的高端及綜合儀器產(chǎn)品研發(fā)上得到加強,重視儀器接口的標準化、網(wǎng)絡(luò)化和應用的網(wǎng)絡(luò)化;由可互換虛擬儀器(IVI)標準的引入所帶來的儀器驅(qū)動程序的標準化,滿足了儀器間可互換性的要求,并對通用化測試診斷軟件平臺的開發(fā)和應用提供了基礎(chǔ)保障;針對新一代雷達、通訊、電子偵察和電子干擾、精確制導等應用的發(fā)展,并滿足對密集、復雜和狀態(tài)多變的電磁環(huán)境模擬仿真和高精度測量與分析的需求,合成儀器以及微波/毫米波測試儀器的相關(guān)技術(shù)得到了快速發(fā)展,如更寬頻率的捷變頻及非線性、多端口、高功率的測試儀器技術(shù)和儀器的出現(xiàn),實現(xiàn)了更多參數(shù)綜合化、模塊化和一體化的測試。無線電及光通信網(wǎng)絡(luò)的測試技術(shù)、紅外測試技術(shù)、以及軟件無線電技術(shù)等的研究和應用也得到了較快推進。
測試系統(tǒng)的組成離不開測試總線,總線本身亦成為測試系統(tǒng)的主要組成部分,根據(jù)總線結(jié)構(gòu)功能和性質(zhì)的不同可以將測試總線分成內(nèi)部總線和外部總線。業(yè)內(nèi)流行的內(nèi)部測試總線主要有VXI和PXI兩種總線,它們分別在VME和PCI兩種計算機總線的基礎(chǔ)上發(fā)展起來,盡管分別定義了很多種安裝結(jié)構(gòu)和總線定義,但由于應用的事實標準,當前絕大部分的結(jié)構(gòu)形式是:VXI使用的是C尺寸,而PXI使用的是A尺寸。在最新的版本中,VXI(V3.0)的總線速度可達到160MB/s,而PXI的總線速度更快,最高速度可達528MB/s,PXI的另一個提高傳輸速度的發(fā)展是支持PCI Express,有人給它命名為PXIE總線,它在PXI總線的背板上再集成進PCI Express總線,以滿足某些儀器模塊的快速數(shù)據(jù)傳送需求;就應用情況而言,兩種總線在測試領(lǐng)域都得到了較好的發(fā)展,VXI總線定義了更為嚴格的時鐘、供電電源、機箱和電磁兼容的指標要求,因此主要應用在高端的測試領(lǐng)域,而PXI在要求小型化和儀器間快速數(shù)據(jù)傳送的場合發(fā)展很快。另外一個快速總線的發(fā)展是ATCA(AdvancedTCA)總線的推出和應用,支持最高可達40Gb/s的接口速度。以航天測控公司為代表的國內(nèi)儀器廠家已全面掌握了各類VXI/PXI總線模塊化測試儀器的開發(fā)技術(shù),并形成了系列化的VXI/PXI總線基礎(chǔ)測量儀器貨架產(chǎn)品,大部分產(chǎn)品的指標與國外同類產(chǎn)品相當,部分指標還高于國外產(chǎn)品,同時可以滿足更寬的使用環(huán)境要求。
外部總線有GPIB、USB、1394和LXI等,當前發(fā)展和應用比較活躍的有USB和LXI總線,在小型化、便攜式或?qū)嶒炇业膽弥?,以USB接口的儀器系統(tǒng)有快速發(fā)展之勢;在廣泛使用的Ethernet的基礎(chǔ)上發(fā)展而成的LXI總線,則被認為是第一款真正意義上的外部儀器總線,它分為A、B、C三個級別,A級別要求最高,可以滿足精確時鐘同步和同步觸發(fā)的功能要求,在分布式和大規(guī)模的測試系統(tǒng)中有獨到的應用空間,為測試技術(shù)的應用開辟了另一片天地。
自動化測試及綜合測試技術(shù)
伴隨著世界新技術(shù)的發(fā)展,信息化技術(shù)和信息化裝備的應用已成為提升裝備能力的關(guān)鍵途徑,無論是民用還是軍用領(lǐng)域的水陸空裝備、通信系統(tǒng)、自動化生產(chǎn)裝置等等,其電磁探測、自動化控制、數(shù)據(jù)分析、數(shù)據(jù)傳輸、網(wǎng)絡(luò)通信等一系列功能在不斷地增加,所承載的電子設(shè)備也在不斷地增加,為保證裝備的正常工作,對這些先進而復雜的電子設(shè)備的測試和故障診斷就顯得格外之重要,面對這樣測試及診斷任務(wù)越來越繁重和復雜的局面,多年來,業(yè)內(nèi)在注重單項測試技術(shù)突破的同時,力求使測試設(shè)備實現(xiàn)自動化、通用化和綜合化,以滿足通用的模擬、數(shù)字、射頻和光電等系統(tǒng)的全面測試能力。
通用化的測試系統(tǒng)本身的特點體現(xiàn)在測試儀器的通用、軟件平臺的通用和接口適配器的通用上,在以自動測試系統(tǒng)(ATS)為基礎(chǔ)的通用化、綜合化的發(fā)展過程中,之前由于投資和管理的分散,造成了ATS品種繁多、體系結(jié)構(gòu)不統(tǒng)一以及軟硬件接口的專用化的格局,使得很難實現(xiàn)真正意義上的通用化,要實現(xiàn)測試設(shè)備的通用化、綜合化,就得對ATS進行集中管理和規(guī)劃,以美國為例,他們采取的措施之一是把ATS納入國防部聯(lián)合技術(shù)體系結(jié)構(gòu),以加強ATS的標準化;措施之二就是啟動下一代測試計劃(NxTest),統(tǒng)一三軍的ATS的體系結(jié)構(gòu),實現(xiàn)測試設(shè)備的通用化和綜合化,通過以IEEE-1226標準作為系統(tǒng)的主體信息框架,使得測試系統(tǒng)內(nèi)部、測試系統(tǒng)之間、測試過程與外部環(huán)境(包括產(chǎn)品設(shè)計、生產(chǎn)到維修的各個環(huán)節(jié))之間實現(xiàn)信息資源的共享和交互,實現(xiàn)共享TPS和ATS,共享診斷基礎(chǔ)結(jié)構(gòu),改善TPS開發(fā)環(huán)境,便于TPS移植;同時結(jié)合IEEE-1232標準使診斷推理系統(tǒng)能相互兼容和獨立于測試過程,達到測試診斷知識可移植、重用和共享;這些措施的目標就是要使得測試設(shè)備的硬件減少2/3,工程費用減少2/3,TPS開發(fā)時間和成本減少50~70%。最后的效果非常明顯,在很大程度上減少了測試設(shè)備的規(guī)模和投資。經(jīng)過“十五”的發(fā)展,國內(nèi)一些專業(yè)測控廠家充分利用成熟的模塊化儀器技術(shù)、標準總線技術(shù)、通用軟件平臺技術(shù)和自動化測試系統(tǒng)技術(shù),開發(fā)出了滿足軍用和民用需要的通用化和綜合化的測試系統(tǒng)設(shè)備,在航天、航空、船舶、車輛等測試領(lǐng)域中得到了較好的應用。
研究并規(guī)范多層次自動測試的開放式體系結(jié)構(gòu),消化吸收NxTest體系結(jié)構(gòu)設(shè)計思想,實現(xiàn)裝備全壽命周期測試及跨平臺測試的要求,實現(xiàn)信息與系統(tǒng)的資源共享、互連、互換、互操作、可擴展以及滿足縱向集成測試等通用化測試的需求。通過解決統(tǒng)一的規(guī)范和標準,在軟件平臺、系統(tǒng)接口、安裝結(jié)構(gòu)上實現(xiàn)ATS的相互兼容,就能進一步提高資源的利用率,實現(xiàn)更加通用化和綜合化的測試目的。
故障診斷及綜合保障技術(shù)
測試和診斷就是在獲取被測對象的各類參數(shù)、感知其特性和功能的基礎(chǔ)上,進行分析和評定,及時而準確地確定其工作或性能狀態(tài),并隔離其內(nèi)部故障的手段,同時為維修提供判斷的依據(jù)。故障診斷是測試任務(wù)的最高境界,通過系統(tǒng)級和板級的故障診斷技術(shù),可將故障定位到部件、插板、甚至元器件,實現(xiàn)準確定位并及時修復,從而可以大幅度減少系統(tǒng)或設(shè)備的平均維修時間。
在綜合保障技術(shù)體系中,包括了可靠性技術(shù)、測試技術(shù)和現(xiàn)場維修技術(shù)。其中的可靠性、可測試性和可維修性等跟產(chǎn)品的設(shè)計過程息息相關(guān),而為可靠性建模、可靠性分析以及維修性建模提供基本數(shù)據(jù)的又是測試和診斷,同時,在可靠性分配、可靠性預計和維修性預計上又會對測試和診斷提出要求。因此,處理好它們之間的關(guān)系就非常重要,為滿足產(chǎn)品全壽命周期的綜合保障的需要,一些機構(gòu)在可靠性、可測性和可維性的設(shè)計方面,在試驗與評估技術(shù)方面,已實現(xiàn)了從定性向定量分析的過渡,并推出了大量的保障性設(shè)計分析與評估的工具軟件,并以數(shù)字化設(shè)計平臺為基礎(chǔ)來實現(xiàn)裝備研制過程保障性與性能的有機結(jié)合,以多學科設(shè)計優(yōu)化技術(shù)為基礎(chǔ)來實現(xiàn)各種設(shè)計特性的綜合。在維修技術(shù)方面,利用信息技術(shù)、先進的傳感器技術(shù)、自動測試技術(shù)、故障診斷和預測技術(shù)、人工智能技術(shù)等手段發(fā)展電子維修、虛擬維修和仿真等技術(shù),進行綜合檢測、預測與評估,以提高維修的快速性和精確性。在測試與診斷技術(shù)方面,進一步發(fā)展和完善了綜合測試與故障診斷一體化技術(shù),建立起規(guī)范的綜合診斷與維修保障系統(tǒng)的體系結(jié)構(gòu),兼容IEEE-1445標準,應用更為有效的故障建模、推理診斷方法、測試診斷與信息融合等基礎(chǔ)技術(shù),為系統(tǒng)級、板級和芯片級的故障診斷提供技術(shù)手段,為裝備綜合維修保障提供更加完善的技術(shù)和產(chǎn)品支持。隨著信息技術(shù)的發(fā)展,模糊理論、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、遺傳算法、小波變換的最新理論都先后應用到故障診斷領(lǐng)域,并取得了一定的成效;另外,模糊故障樹、模糊神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、基于模糊規(guī)則的專家系統(tǒng)和基于遺傳算法的診斷方法等等均在深入研究之中。在維修設(shè)備產(chǎn)品方面,多家單位運用專家系統(tǒng)、人工智能方法開發(fā)了板級和系統(tǒng)級的故障綜合診斷系統(tǒng)產(chǎn)品并得到應用,典型的設(shè)備有泰瑞達公司的LASER系統(tǒng),法宇航的ATEC Series6系統(tǒng),以色列的ARIS2000系統(tǒng)和航天測控公司的“華佗電子診所”HTEDS8000系統(tǒng)等。
新一代裝備由于具有高度智能化、數(shù)字化、總線化的特點,傳統(tǒng)的外部測試和診斷逐步由內(nèi)部BIT功能所替代,這已成為當前測試技術(shù)發(fā)展的重要趨勢。說起B(yǎng)IT技術(shù)可以追溯到上世紀五十年代初,美國就開始研究BIT測試技術(shù),并于五十年代末在機載雷達上成功地裝備了常規(guī)的BIT裝置。隨后又在其戰(zhàn)機F/A-18上應用;為改善和提高BIT性能,國外將人工智能技術(shù)、計算機技術(shù)和半導體技術(shù)綜合應用于元器件、電路板和系統(tǒng)等各個BIT層次之中;八十年代后期,出現(xiàn)了基于邊界掃描技術(shù)的新型BIT技術(shù),并逐步成為新型航空電子設(shè)備BIT的主要測試和測試性設(shè)計技術(shù),在F-22、RAH-66、波音777等系統(tǒng)中得到成功應用。新型BIT技術(shù)主要以IEEE-1149系列標準為基礎(chǔ),其中主要包括定義了板級、模塊級網(wǎng)絡(luò)化測試和維修總線,可實現(xiàn)數(shù)字和模擬電路的板級和子系統(tǒng)級(單元設(shè)備)的BIT。目前,一些儀器公司(如NI、Corelis等)也已經(jīng)開發(fā)出符合IEEE Std 1149標準相關(guān)的開發(fā)工具軟件和系統(tǒng),國內(nèi)的很多科研單位也在開展這方面的工作,取得了一定的成果并推出了一些軟硬件的產(chǎn)品。
結(jié)語
測試領(lǐng)域的需求和應用非常之廣泛,所應用的技術(shù)從模擬到數(shù)字、從低頻到高頻/微波、從測試到診斷、從維修到保障,方方面面都在快速發(fā)展,展現(xiàn)在我們面前的專業(yè)詞匯,如儀器、虛擬儀器、測試、虛擬測試、虛擬試驗、診斷與維修、預測與評估、BIT等等,它們都是測試領(lǐng)域新技術(shù)發(fā)展和應用的載體。我們欣喜地看到國內(nèi)測試領(lǐng)域的主管部門、院所、廠家等都非常重視測試技術(shù)發(fā)展的規(guī)劃和技術(shù)的創(chuàng)新,這必將對測試技術(shù)和測試裝備上水平產(chǎn)生很大的促進作用。
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