安捷倫推出第一個非向量測試功能及測量技術(shù)

安捷倫推出安捷倫Medalist VTEP v2.0，這是由非向量測試功能組成的套件，其中包括新的NPM測量技術(shù)。

這一測試功能是在世界上第一次包括NPM測量技術(shù)。用戶可以檢測連接器上電源管腳和接地管腳中的開路，而許多業(yè)內(nèi)人士曾一度認(rèn)為這超出了現(xiàn)有測試能力的范圍。

隨著信號在電路板上傳輸?shù)乃俣仍絹碓礁?，如在PCIe、DDR和SATA 連接器上，正確接地正變得日益關(guān)鍵。隨著速度提高，接地針腳上的開路可能會導(dǎo)致信號集成的設(shè)計(jì)范圍降低，誤碼率(BER)提高，放射電磁干擾(EMI)提高。

安捷倫VTEP v2.0是為幫助制造商檢測這些關(guān)鍵缺陷而設(shè)計(jì)的，功能測試和產(chǎn)品發(fā)售中可能檢測不到這些缺陷，在后期可能會給制造商帶來更高的成本。 

此外，通過VTEP v2.0，用戶可以獲原有得VTEP技術(shù)的優(yōu)勢，如更高的靈敏度，更有效地降低噪聲；同時獲得iVTEP的優(yōu)勢，該技術(shù)面向采用最小引線框或不帶引線框的超小型集成電路封裝。iVTEP還適用于帶有散熱片的設(shè)備及帶有附加散熱器的器件。

安捷倫在線測試市場經(jīng)理NK Chari說，“VTEP v2.0提供了非向量測試必須提供的最佳功能。”通過采用原有的VTEP技術(shù)作為核心，采用關(guān)鍵創(chuàng)新功能進(jìn)行增強(qiáng)，如屢獲大獎的iVTEP和新的NPM測量技術(shù)，VTEP v2.0使得用戶可以更好地了解系統(tǒng)狀況，彌補(bǔ)了以前在無矢量測量覆蓋方面缺失的信息。
Chari接著說，“我們希望制造商獲得這種重要的創(chuàng)新技術(shù)，我們相信，這一技術(shù)將提供前所未有的全新的覆蓋范圍，正因如此，我們在所有新的Medalist i3070系統(tǒng)中免費(fèi)提供VTEP v2.0。”

安捷倫今天還為印刷電路板組件推出Medalist i3070在線測試系統(tǒng)。
VTEP v2.0采用與原有VTEP相同的硬件，因此不要求進(jìn)行硬件升級。