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          一種適于低壓高頻DC-DC的自舉BiCMOS驅(qū)動電路

          作者:■ 西安電子科技大學(xué)電路設(shè)計(jì)研究所 潘華兵 來新泉 時間:2005-05-06 來源:eaw 收藏

          摘    要:本文給出一種適用于高開關(guān)頻率升壓型轉(zhuǎn)換器的BiCMOS。該采用技術(shù),工作電壓最低可達(dá)1.5V,在負(fù)載電容為60pF條件下,工作頻率高達(dá)5MHz。文章詳細(xì)的介紹了此的設(shè)計(jì)思想,并且給出了最終設(shè)計(jì)電路。
          關(guān)鍵詞:;;;驅(qū)動電路

          引言
          目前轉(zhuǎn)換器設(shè)計(jì)技術(shù)發(fā)展主要趨勢有:(1)高頻化技術(shù):隨著開關(guān)頻率的提高,開關(guān)變換器的體積也隨之減小,功率密度也得到大幅提升,動態(tài)響應(yīng)得到改善。小功率DC-DC轉(zhuǎn)換器的開關(guān)頻率將上升到兆赫級;(2)低輸出電壓技術(shù):隨著半導(dǎo)體制造技術(shù)的不斷發(fā)展,微處理器和便攜式電子設(shè)備的工作電壓越來越低,這就要求未來的DC-DC變換器能夠提供低輸出電壓以適應(yīng)微處理器和便攜式電子設(shè)備的要求。
          這些技術(shù)的發(fā)展對電源芯片電路的設(shè)計(jì)提出了更高的要求。首先,隨著開關(guān)頻率的不斷提高,對于開關(guān)元件的性能提出了更高的要求,同時必須具有相應(yīng)的開關(guān)元件驅(qū)動電路以保證開關(guān)元件在高達(dá)兆赫級的開關(guān)頻率下正常工作。其次,對于電池供電的便攜式電子設(shè)備來說,電路的工作電壓較低(以鋰電池為例,工作電壓2.5~3.6V),因此電源芯片的工作電壓較低。
          MOS管具有很低的導(dǎo)通電阻,消耗能量較低,在目前流行的高效DC-DC芯片中多采用MOS管作為功率開關(guān)。但是由于MOS管的寄生電容大,一般情況下NMOS開關(guān)管的柵極電容高達(dá)幾十pF。這對于設(shè)計(jì)高頻DC-DC轉(zhuǎn)換器開關(guān)管驅(qū)動電路提出了更高的要求。
          ULSI設(shè)計(jì)中有多種CMOS、BiCMOS采用結(jié)構(gòu)的邏輯電路和作為大容性負(fù)載的驅(qū)動電路。這些電路能夠在低于1V電壓供電條件下正常工作,并且能夠在負(fù)載電容為1~2pF的條件下工作頻率達(dá)到幾十M甚至上百M(fèi)Hz。本文正是采用了自舉升壓電路,設(shè)計(jì)了一種具有大負(fù)載電容驅(qū)動能力的,適合于低電壓、高開關(guān)頻率升壓型DC-DC轉(zhuǎn)換器的驅(qū)動電路。電路基于三星AHP615 BiCMOS工藝設(shè)計(jì)并經(jīng)過Hspice仿真驗(yàn)證,在供電電壓為1.5V、負(fù)載電容為60pF時,工作頻率能夠達(dá)到5MHz以上。

          自舉升壓電路
          自舉升壓電路的原理圖如圖1所示。所謂自舉升壓原理就是,在輸入端IN輸入一個方波信號,利用電容Cboot將A點(diǎn)電壓抬升至高于Vdd的電平,這樣就可以在B端輸出一個與輸入信號反相,且高電平高于Vdd的方波信號。
          而實(shí)際上,B點(diǎn)電位與負(fù)載電容和電容Cboot的大小有關(guān),可以根據(jù)設(shè)計(jì)需要調(diào)整。具體關(guān)系將在后面介紹電路設(shè)計(jì)時詳細(xì)討論。在 圖2中給出了輸入端IN電位與A、B兩點(diǎn)電位關(guān)系的示意圖。

          驅(qū)動電路結(jié)構(gòu)
          圖3是驅(qū)動電路的原理圖。驅(qū)動電路采用Totem輸出結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),上拉驅(qū)動管為NMOS管N4、晶體管Q1和PMOS管P5,下拉驅(qū)動管為NMOS管N5。圖3中CL為負(fù)載電容,Cpar為B點(diǎn)的寄生電容。虛線框內(nèi)的電路為自舉升壓電路。
          本驅(qū)動電路的設(shè)計(jì)思想是,利用自舉升壓結(jié)構(gòu)將上拉驅(qū)動管N4的柵極(B點(diǎn))電位抬升,使得UB>Vdd+VTH,則NMOS管N4工作在線性區(qū),使得VDSN4 大大減小,最終可以實(shí)現(xiàn)驅(qū)動輸出高電平達(dá)到Vdd。而在輸出低電平時,下拉驅(qū)動管本身就工作在線性區(qū),可以保證輸出低電平位gnd。因此無需增加自舉電路也能達(dá)到設(shè)計(jì)要求。
          考慮到此驅(qū)動電路應(yīng)用于升壓型DC-DC轉(zhuǎn)換器的開關(guān)管驅(qū)動,負(fù)載電容CL很大,一般能達(dá)到幾十pF,因此還需要進(jìn)一步增加輸出電流能力。所以增加了晶體管Q1作為上拉驅(qū)動管。這樣在輸入端由高電平變?yōu)榈碗娖綍r,Q1導(dǎo)通,由N4、Q1同時提供電流,OUT端電位迅速上升,當(dāng)OUT端電位上升到Vdd-VBE時,Q1截止,N4繼續(xù)提供電流對負(fù)載電容充電,直到OUT端電壓達(dá)到Vdd。
          在OUT端為高電平期間,A點(diǎn)電位會由于電容Cboot上的電荷泄漏等原因而下降。這會使得B點(diǎn)電位下降,N4的導(dǎo)通性下降。同時由于同樣的原因,OUT端電位也會有所下降。使輸出高電平不能保持在Vdd。為了防止這種現(xiàn)象的出現(xiàn),又增加了PMOS管P5作為上拉驅(qū)動管,用來補(bǔ)充OUT端CL的泄漏電荷,維持OUT端在整個導(dǎo)通周期內(nèi)為高電平。

          設(shè)計(jì)中需要注意的問題及
          仿真結(jié)果
          電容Cboot的大小的確定
          Cboot的最小值可以按照以下方法確定。在預(yù)充電周期內(nèi),電容Cboot 上的電荷為VddCboot 。在A點(diǎn)寄生電容(計(jì)為CA)上的電荷為VddCA。因此在預(yù)充電周期內(nèi),A點(diǎn)的總電荷為:
              (1)
          B點(diǎn)電位為gnd,因此在B點(diǎn)的寄生電容Cpar上的電荷為0。
          在自舉升壓周期,為了使OUT端電壓達(dá)到Vdd,B點(diǎn)電位最低為VB=Vdd+Vthn。因此在B點(diǎn)的寄生電容Cpar上的電荷為:
                 (2)
          忽略MOS管P4源漏兩端電壓,此時Cboot上的電荷為VthnCboot ,A點(diǎn)寄生電容CA的電荷為(Vdd+Vthn)CA。A點(diǎn)的總電荷為:
             (3)
          同時根據(jù)電荷守恒又有:
                              (4)
          綜合式(1)~(4)可得:
           
                   (5)
          從式(5)中可以看出,Cboot隨輸入電壓變小而變大,并且隨B點(diǎn)電壓VB變大而變大。而B點(diǎn)電壓直接影響N4的導(dǎo)通電阻,也就影響驅(qū)動電路的上升時間。因此在實(shí)際設(shè)計(jì)時,Cboot的取值要大于式(5)的計(jì)算結(jié)果,這樣可以提高B點(diǎn)電壓,降低N4導(dǎo)通電阻,減小驅(qū)動電路的上升時間。
          PMOS管P2、P4的尺寸問題
          將公式(5)重新整理后得:
             (6)
          從式(6)中可以看出在自舉升壓周期內(nèi), A、B兩點(diǎn)的寄生電容使得B點(diǎn)電位降低。在實(shí)際設(shè)計(jì)時為了得到合適B點(diǎn)電位除了增加Cboot外,還要盡量減小A、B兩點(diǎn)的寄生電容。因此在設(shè)計(jì)時,預(yù)充電PMOS管P2的尺寸盡可能的取小,以減小寄生電容CA。而對于B點(diǎn)的寄生電容Cpar來說,主要是上拉驅(qū)動管N4的柵極寄生電容,MOS管P4、N3的源漏極寄生電容只占一小部分。由于在前面的分析中忽略了P4的源漏電壓,因此設(shè)計(jì)時就要盡量的加大P4的寬長比,使其在自舉升壓周期內(nèi)的源漏電壓很小以致可以忽略。但是P4的尺寸又不能太大,要保證P4的源極寄生電容遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于上拉驅(qū)動管N4的柵極寄生電容。
          阱電位問題
          如圖3所示,PMOS器件P2、P3、P4的N-阱連接到了自舉升壓節(jié)點(diǎn)A上。這樣做的目的是,在自舉升壓周期內(nèi),防止他們的源/漏--阱結(jié)導(dǎo)通。而且這還可以防止在源/漏--阱正偏時產(chǎn)生由寄生SRC引起的閂鎖現(xiàn)象。
          上拉驅(qū)動管N4的阱偏置電位要接到它的源極,最好不要直接接地。這樣做的目的是消除襯底偏置效應(yīng)對N4的影響。
          Hspice仿真驗(yàn)證結(jié)果
          在表1中給出了驅(qū)動電路在不同工作電壓、不同負(fù)載條件下的上升時間tr和下降時間tf 的仿真結(jié)果。在圖4中給了電路工作在輸入電壓1.5V、工作頻率為5MHz、負(fù)載電容60pF條件下的輸出波形。
          結(jié)合表1和圖4可以看出,此驅(qū)動電路能夠在工作電壓為1.5V,工作頻率為5MHz,并且負(fù)載電容高達(dá)60pF的條件下正常工作。它可以應(yīng)用于低電壓、高工作頻率的DC-DC轉(zhuǎn)換器中作為開關(guān)管的驅(qū)動電路。
          結(jié)語
          本文采用自舉升壓電路,設(shè)計(jì)了一種BiCMOS Totem結(jié)構(gòu)的驅(qū)動電路。該電路基于三星AHP615 BiCMOS工藝設(shè)計(jì),已應(yīng)用于某種高性能升壓型DC-DC芯片,并已投片?!?/P>

          參考文獻(xiàn)
          1 P.C. Chen, J.B. Kuo Sub-1V CMOS large capacitive-load driver circuit using direct bootstrap technique for low-voltage CMOS VLSI, ELECTRONICS  LETTERS  14th  March 2002, Vol.38  No.6 ,pp265~266
          2 Kiat-Seng Yeo, Jian-Guo Ma, Manh-Anh Do, Ultra-low-voltage bootstrapped CMOS driver for performance applications, ELECTRONICS  LETTERS  13th  April 2000, Vol.36  No.8 , pp706~708



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