電壓比較器VIO的開環(huán)測試 作者: 時間:2005-05-11 來源: 加入技術交流群 掃碼加入和技術大咖面對面交流海量資料庫查詢 收藏 輸入失調電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡稱比較器)一個重要的電性能參數,GB/T 6798-1996中,將其定義為“使輸出電壓為規(guī)定值時,兩輸入端間所加的直流補償電壓”。傳統測試設備大都采用“被測器件(DUT,Device Under Test)-輔助運放”的測試模式,測試原理圖見圖1。 在輔助運放A的作用下,整個系統構成穩(wěn)定的閉環(huán)網絡,從而使VD=0,則 VC = -VS1
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