科利登發(fā)布D-6432DFT測試解決方案

　　科利登系統(tǒng)有限公司推出業(yè)界性價比最高、性能最為出眾的解決方案Sapphire D-6432DFT，用于測試新興的高速計算和消費應用中所使用的微處理器、游戲及圖形器件。該設備的推出再次強化了科利登市場領先的Sapphire測試平臺。

　　Sapphire D-6432DFT設備是首款用于高速串行總線的集成測試解決方案，在一次插入中結合了高速環(huán)路測試、抖動測量和注入信號，以及掃描/功能性測試和DC參數(shù)測量。D-6432DFT的密度比同類產品高出4倍，可為制造商提供突破性的可測性設計（DFT）方法，助其顯著降低高速半導體器件的總體成本并縮短上市時間。

　　這一新設備是與領先的微處理器生產廠商AMD公司合作開發(fā)的。目前，AMD的工程師正采用Sapphire平臺和D-6432DFT加速其最先進產品的測試和上市周期。在全球數(shù)以百計的Sapphire平臺裝機量中，已有200多個D－6432DFT設備安裝在了屢獲殊榮的Sapphire平臺中，進行生產測試。

　　AMD公司自動測試設備（ATE）技術經理兼高級技術工程師Pete Hodakievic表示：“市場對高速總線接口測試和快速數(shù)據(jù)傳輸率提出了越來越高的要求，迫切需要一種比簡易承載板環(huán)路測試技術更為強勁的測試方法。同時，我們又因為需要控制測試成本，而無法采用傳統(tǒng)的測試設備和方法。采用Sapphire D-6432DFT，我們用單次插入即可完成對最先進的微處理器芯片進行高速環(huán)路測試、DC參數(shù)測試，以及掃描和功能測試。相比全功能測試，D-6432DFT不僅有更好的測試覆蓋，還可以顯著降低測試成本?！?/P>

　　為了實現(xiàn)更高的數(shù)據(jù)速率，PCI Express I和II、HyperTransport 2.0和3.0、XAUI、XDR、RapidIO和InfiniBand等高速端口得到了越來越多的應用。然而，高速總線對傳統(tǒng)“功能”測試方法的成本、復雜性和周期都提出了挑戰(zhàn)。這些不確定因素在低速測試時能運作無誤，但速度高于6 Gbps以上時，則有可能產生風險。目前的“近端”環(huán)路（即利用設備來輸出測試數(shù)據(jù)，再回收數(shù)據(jù)至設備以進行識別）技術簡單、性價比高，但難以有效地處理抖動、信號變異和協(xié)議性能，從而導致測試不完全或測試死角。集成電路制造商需要采用可測性設計方法，才能對那些影響設備和系統(tǒng)性能的關鍵變量進行靈活、全面的測試。

　　遠端環(huán)路：卓越的抖動測量和控制，提供更高的價值Sapphire D-6432DFT有效地應用了創(chuàng)新的遠端環(huán)路技術，既具有可測性設計的靈活性，又有功能測試所具備的深層診斷能力。通過將待測器件置于高性價比的智能測試設備通道中，延長了反饋路徑，也首次實現(xiàn)了高速總線在生產級的測試。與以往那種投資多臺設備測試少量通道的碎片式方法不同，D-6432DFT集成了廣泛的功能，可在單臺設備上測試多達16個通道。其優(yōu)勢包括：

.每一通道通過集成電路實現(xiàn)同時的、并行的抖動注入和抖動測量，并不需要附加設備
.電壓和時間域中的全封閉眼圖測試
.除了極低成本的差分測試，還集成了用于掃描/功能性測試的400/800 Mbps數(shù)據(jù)子系統(tǒng)
.增加了解決信號完整性問題的靈敏度覆蓋檢測
.接收器和發(fā)送器通道可用來為內核邏輯和協(xié)議堆棧提供測試向量
.用于全面DC參數(shù)測試的器件管腳存取

　　科利登副總裁兼自動測試設備總經理Chetan Desai表示：“與AMD這樣的行業(yè)領先企業(yè)合作，使我們能夠提供滿足市場需求的方案，幫助客戶充滿信心地進行技術創(chuàng)新并應對上市周期和成本的雙重挑戰(zhàn)。我們很高興推出Sapphire D-6432DFT，這是業(yè)界唯一用于高速器件生產測試的可行方案。它不僅能滿足今天的市場需求，還可靈活適應未來幾代的產品發(fā)展?！?/P>

　　Sapphire D－6432DFT設備現(xiàn)已投放市場。在7月17日至18日舉辦的Semicon West 展會期間, 科利登技術中心展出了Sapphire D-6432DFT設備，還現(xiàn)場展示了科利登完整的測試解決方案，包括曾經獲獎的Sapphire平臺和Diamond 平臺。