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          吉時(shí)利集成最新C-V模塊及軟件的4200-SCS系統(tǒng)

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          作者: 時(shí)間:2007-10-25 來(lái)源:EEPW 收藏

            儀器公司(NYSE:KEI),宣布為其功能強(qiáng)大的4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)新增一套C-V功能—— 4200-CVU。 4200-CVU能以模塊的形式插入 4200-SCS的任意可用儀器插槽中,能在10KHz到10MHz的頻率范圍內(nèi)快速而方便地飛法(fF)和納法(nF)級(jí)電容。在 4200-CVU的創(chuàng)新設(shè)計(jì)中采用當(dāng)前最先進(jìn)的高性能電路,有8項(xiàng)專利正在申請(qǐng)中。該設(shè)備具有直觀的點(diǎn)擊式配置界面,線纜連接簡(jiǎn)單,內(nèi)置的元件模型能夠使用戶直接獲得有效的C-V測(cè)量結(jié)果。無(wú)論用戶是否具有相關(guān)測(cè)量經(jīng)驗(yàn),都能使用該儀器實(shí)現(xiàn)專業(yè)級(jí)的C-V測(cè)量。

            4200-CVU附帶最完整的庫(kù),極大提高了測(cè)量效率。如果與 4200-LS-LC-12結(jié)合使用將實(shí)現(xiàn)更高測(cè)量效率。 4200-LS-LC-12是帶有電纜和適配器的專用開關(guān)矩陣卡,通過單針探測(cè)能實(shí)現(xiàn)高度集成的C-V/I-V。4200-PROBER-KIT為可選模塊,使用該模塊能輕松將 4200-SCS與各種廣泛使用的探頭相連,最終幫助用戶如I-V一樣輕松配置和執(zhí)行功能全面的C-V測(cè)試。

            廣泛的應(yīng)用支持

            通過對(duì)4200-SCS系列產(chǎn)品功能的進(jìn)一步增強(qiáng),繼續(xù)保持在C-V測(cè)量領(lǐng)域領(lǐng)先地位,僅4200這一種半導(dǎo)體測(cè)量?jī)x器就能滿足非常廣泛的測(cè)量應(yīng)用需求,其中涵蓋了種類豐富的探測(cè)器、器件類型、制造工藝以及包括脈沖I-V在內(nèi)的測(cè)量方法學(xué)。 4200-CVU及其可選模塊可解決其他特征分析系統(tǒng)無(wú)法解決的問題,例如無(wú)法提供完整的C-V/I-V/脈沖,或者用戶接口和軟件庫(kù)支持不足。此外,該系統(tǒng)靈活而強(qiáng)大的測(cè)試執(zhí)行引擎能夠十分方便地在同一測(cè)試序列中整合C-V、I-V和脈沖測(cè)試。因此,4200-SCS能夠憑借其單一的、緊密集成的特征分析解決方案替代多種電路測(cè)試工具。



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