吉時(shí)利集成最新C-V模塊及軟件的4200-SCS系統(tǒng)

　　吉時(shí)利儀器公司(NYSE:KEI)，宣布為其功能強(qiáng)大的4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)新增一套C-V測(cè)量功能—— 4200-CVU。 4200-CVU能以測(cè)量模塊的形式插入 4200-SCS的任意可用儀器插槽中，能在10KHz到10MHz的頻率范圍內(nèi)快速而方便地測(cè)量飛法(fF)和納法(nF)級(jí)電容。在 4200-CVU的創(chuàng)新設(shè)計(jì)中采用當(dāng)前最先進(jìn)的高性能電路，有8項(xiàng)專(zhuān)利正在申請(qǐng)中。該設(shè)備具有直觀的點(diǎn)擊式配置界面，線纜連接簡(jiǎn)單，內(nèi)置的元件模型能夠使用戶(hù)直接獲得有效的C-V測(cè)量結(jié)果。無(wú)論用戶(hù)是否具有相關(guān)測(cè)量經(jīng)驗(yàn)，都能使用該儀器實(shí)現(xiàn)專(zhuān)業(yè)級(jí)的C-V測(cè)量。

　　4200-CVU附帶最完整的測(cè)試庫(kù)，極大提高了測(cè)量效率。如果與吉時(shí)利 4200-LS-LC-12結(jié)合使用將實(shí)現(xiàn)更高測(cè)量效率。 4200-LS-LC-12是帶有電纜和適配器的專(zhuān)用開(kāi)關(guān)矩陣卡，通過(guò)單針探測(cè)能實(shí)現(xiàn)高度集成的C-V/I-V測(cè)試。4200-PROBER-KIT為可選模塊，使用該模塊能輕松將 4200-SCS與各種廣泛使用的探頭相連，最終幫助用戶(hù)如I-V測(cè)試一樣輕松配置和執(zhí)行功能全面的C-V測(cè)試。

　　廣泛的應(yīng)用支持

　　通過(guò)對(duì)4200-SCS系列產(chǎn)品功能的進(jìn)一步增強(qiáng)，吉時(shí)利繼續(xù)保持在C-V測(cè)量領(lǐng)域領(lǐng)先地位，僅4200這一種半導(dǎo)體測(cè)量?jī)x器就能滿(mǎn)足非常廣泛的測(cè)量應(yīng)用需求，其中涵蓋了種類(lèi)豐富的探測(cè)器、器件類(lèi)型、制造工藝以及包括脈沖I-V在內(nèi)的測(cè)量方法學(xué)。 4200-CVU及其可選模塊可解決其他特征分析系統(tǒng)無(wú)法解決的問(wèn)題，例如無(wú)法提供完整的C-V/I-V/脈沖，或者用戶(hù)接口和軟件庫(kù)支持不足。此外，該系統(tǒng)靈活而強(qiáng)大的測(cè)試執(zhí)行引擎能夠十分方便地在同一測(cè)試序列中整合C-V、I-V和脈沖測(cè)試。因此，4200-SCS能夠憑借其單一的、緊密集成的特征分析解決方案替代多種電路測(cè)試工具。