科利登在IC China 2005展出高量產(chǎn)測試系統(tǒng)

    2005年8月22日，來自中國北京的消息：科利登系統(tǒng)公司 (納斯達克代碼：CMOS) 日前宣布將參展2005年 8月24號至26號在北京舉行的IC China 2005。該展會是半導(dǎo)體設(shè)備供應(yīng)商及電子行業(yè)的一個首要集會，它由中國半導(dǎo)體工業(yè)協(xié)會和中國貿(mào)促會電子信息行業(yè)分會(CCPIT-ECC)共同舉辦。

    為了滿足中國區(qū)域快速增長的低成本市場需求，科利登將展出Sapphire家族的最新成員Sapphire D-10系統(tǒng)。Sapphire D-10是一款創(chuàng)新的高產(chǎn)能多功能的圓片和封裝測試系統(tǒng)，特別用于應(yīng)對微處理器，無線基帶，顯示驅(qū)動控制器及低成本消費類混合信號器件的低成本測試的需求。支持200Mbps的圓片測試，同時還支持高并行度的產(chǎn)品測試，Sapphire D-10非常適合支持中國半導(dǎo)體工業(yè)的快速發(fā)展。

    科利登的首席執(zhí)行官Dave Ranhoff說:“隨著去年中國電子信息制造產(chǎn)業(yè)3203億美元的銷售總額，中國已經(jīng)成為全球最大的電子信息產(chǎn)品制造地之一。積極地參與和支持IC China這樣的展會和行業(yè)集會，是科利登公司對快速增長的中國半導(dǎo)體市場及本地客戶的承諾和義務(wù)之一。”
 
    除了Sapphire D－10系統(tǒng)，科利登還將突出其非揮發(fā)性存儲器測試和汽車電子測試的解決方案，并會有三場技術(shù)論文報告――”閃存測試的復(fù)雜性”，”汽車電子測試的低成本解決方案”和”使用真正的模塊化高產(chǎn)能測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)來降低測試成本”。IC China 2005將在北京海淀展覽館舉行,科利登展臺號：3號館B10。