LCD Driver IC 測試方法及其對測試系統(tǒng)提出的挑戰(zhàn)
LCD Driver IC 測試方法及其對測試系統(tǒng)提出的挑戰(zhàn)
本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/8037.htmLCD顯示器件在中國已有二十多年的發(fā)展歷程,已經(jīng)從最初的以數(shù)字顯示為主轉(zhuǎn)變?yōu)橐渣c陣字符、圖形顯示為主。LCD顯示設(shè)備以其低電壓驅(qū)動、微小功耗、能夠與CMOS電路和LSI直接匹配、具有極薄的扁平結(jié)構(gòu)、可以在極亮的環(huán)境光下使用、工藝簡單等等特點成為了極有發(fā)展前景的顯示器件。
LCD顯示器件種類繁多、發(fā)展迅速,從種類到原理、從結(jié)構(gòu)到效應(yīng)、從使用方式到應(yīng)用范圍差異很大,從測試原理上來說也就會有一些不同,目前比較常用的是STN和TFT的LCD顯示器件。由于色彩表現(xiàn)能力、反應(yīng)/刷新時間、視角等因素的限制,STN已經(jīng)退出了大屏幕LCD器件的市場。不過由于彩屏手機、PDA市場的拓廣,STN器件憑借其結(jié)構(gòu)簡單,技術(shù)要求不高,而且投資成本低等特點目前依然占有相當(dāng)?shù)氖袌龇蓊~。TFT型的LCD器件通過晶體管可以迅速地控制每個單元,由于各單元之間的電干擾很小,所以在使用大電流驅(qū)動時也不會有虛影和拖尾現(xiàn)象。較大的電流能提供更高的對比度、更銳利和更明亮的圖像。
為了使LCD設(shè)備工作,必須用到LCD Driver芯片,圖1中所示的是比較常見的LCD 器件的工作原理,當(dāng)然也有許多廠商將這些部件集合在一起,稱為LCD顯示模塊,但在生產(chǎn)設(shè)計時LCD Driver芯片依然是一個獨立的部件。并且它的模擬輸出直接驅(qū)動顯示面板,因而LCD Driver IC的品質(zhì)是液晶顯示效果的決定性因素,因此出廠前必須經(jīng)過嚴(yán)格的測試。由于這類IC具有大量高密度模擬輸出引腳、低電壓高頻輸入信號等特征,對于測試環(huán)境也是一個不小的考驗,而且這種IC發(fā)展迅速,測試環(huán)境必須有一定的裕量,只有選擇合適高效的測試系統(tǒng)才能夠節(jié)約成本,提高生產(chǎn)效率。
由于STN并不是發(fā)展的趨勢和主流,后文中我們將主要針對TFT的LCD Driver IC來談?wù)劥祟怚C的測試方法。
為了驅(qū)動TFT的液晶顯示器需要使用Gate Driver 和Source Driver兩種Driver IC,其中Source Driver負(fù)責(zé)提供列上各色素點的驅(qū)動電壓,而Gate Driver控制每一行像素的選通狀態(tài)。TFT Driver IC的難點主要是在于Source Driver IC的設(shè)計開發(fā)和測試。
LCD Driver的測試方法
和普通的IC一樣,LCD Driver IC在生產(chǎn)過程中同樣需要兩次以上的測試,只不過由于其自身的特點而具有一些特殊的測試項目。
一般來說,LCD Driver IC會執(zhí)行以下的一些測試項目:
?。?) 參考電壓源的動態(tài)電流測試(芯片處于運行狀態(tài))
主要是測試參考電壓源引腳在芯片運作時的電流消耗,由于只是作為D/A轉(zhuǎn)換時的基準(zhǔn)電源,因此這個電流通常應(yīng)當(dāng)不大。
(2) 功能測試
用于檢驗IC能否完成應(yīng)當(dāng)具備的功能,例如:接受RGB輸入并輸出合適的驅(qū)動電壓,選通進入特定的工作模式等。和一般邏輯IC測試的方法一樣,需要使用Pattern程序為IC提供輸入信號,并且檢驗引腳的輸出是否和期待值相符和。
(3) DC參數(shù)測試(VSIM / ISVM)
測定IC的一些具體的電流、電壓參數(shù)。例如:各引腳的漏電流、輸入/輸出的電壓電流等等,通常需要使用DC(直流參數(shù)測試部件)或HVDC(高壓直流參數(shù)測試部件)進行測試。
(4) Contact測試(聯(lián)接完好性測試)
和一般IC的測試步驟一樣,這是芯片測試時首先要進行的測試項目,電源引腳、參考電壓源引腳、RGB輸入和控制信號引腳、以及LCD輸出引腳都需要分別進行Contact測試。Contact測試包括短路(Short)和斷路(Open)測試兩種。測試的方法多種多樣,通常都是借助于IC內(nèi)部的反偏保護二極管進行測試的。
(5) 動態(tài)電源電流和平均電源電流測試
用于衡量IC的平均功耗和瞬時功耗,一般情況下TFT Driver IC的功耗比STN的Driver IC 要大一些。另外,許多LCD 器件都有Standby(待機)模式和節(jié)能模式,這時就需要使用Pattern程序為IC輸入特定的信號選通進入指定的模式,然后再進行電流的測試。
(6) 色階測試
這是彩色(灰度)LCD Driver IC最重要的測試項目,由液晶器件的顯示原理可知,LCD顯示器件的色彩表現(xiàn)是通過向LCD面板加不同的電壓來實現(xiàn)的,因此測試的方法就是在向IC輸入不同RGB信號組合的同時檢驗IC 驅(qū)動引腳的輸出電壓是否是在預(yù)期的范圍內(nèi)來完成測試的,如圖2所示。
如果LCD Driver輸出的驅(qū)動電壓精度要求并不高,為了減少測試時間,通常只需要使用LCD-CP(電壓比較部件)對所有的輸出引腳同時進行測試。此項測試只比較電壓高低,不需要測定具體的電壓數(shù)值。
假如顯示色彩的深度比較高,那么驅(qū)動電壓的測試精度要求就會比較高,那么LCD-CP已經(jīng)無法滿足測試的要求,這時候就需要使用數(shù)字采樣器(Digitizer)來完成測試。數(shù)字采樣器的數(shù)量將直接關(guān)系到測試的時間。
(7) AC參數(shù)測試
眾所周知,響應(yīng)/刷新時間是LCD顯示器件除了色彩深度以外最重要的指標(biāo)之一,AC參數(shù)測試就是為了對IC的開關(guān)特性進行檢驗。諸如:輸出響應(yīng)時間、輸入最小設(shè)置/保持時間等,這些都屬于AC參數(shù)測試的范疇。
(8) LCD輸出偏差測試
對于大屏幕的顯示器件來說,Driver IC的輸出引腳數(shù)量巨大,要求各引腳在同樣的RGB數(shù)據(jù)輸入時的輸出電壓偏差不能太大,否則在顯示時就會有各像素顯示顏色不一致的現(xiàn)象,而且這些顯示器件通常需要使用多枚IC同時進行驅(qū)動,那么就會要求這些IC在同一RGB輸入數(shù)據(jù)下的輸出電壓也要盡量一致,如圖3所示。在這種情況下,就必須對各引腳在不同RGB輸入時的輸出電壓分別測定實際的電壓數(shù)據(jù),然后進行輸出偏差、極限值、平均值等等相關(guān)計算。
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