20kV小電流可控硅固體開關的研制
摘要:利用脈沖變壓器隔離驅動,采用28個可控硅(TYNl225)串聯(lián)成20kV固體開關。解決了變壓器輸出一致性和絕緣問題,對串聯(lián)電路中各開關的均壓等相關技術進行了討論,并給出了測試結果。
本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/80417.htm關鍵詞:固體開關;可控硅;串聯(lián);變壓器
O 引言
固體開關構成的固體繼電器(Solid State Re-lav,SSR)是利用現(xiàn)代微電子技術與電力電子技術相結合發(fā)展起來的一種新型無觸點電子開關器件。與傳統(tǒng)的電磁繼電器相比,它具有高穩(wěn)定、高可靠、無觸點、長壽命等優(yōu)點。
由于固體開關在加速器、雷達發(fā)射機、高功率微波、污染控制、醫(yī)用等軍民用領域具有較明顯的潛在優(yōu)勢,美、英、日等國均對固體開關技術進行了大量研究。根據應用要求的不同,固體開關中單元功率器件也不盡相同。若要求固體開關具有很快的開關速度和高重復頻率,單元器件一般采用功率場效應管(Power M0SFET)或絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)。對單個脈沖放電或低頻充放電時所用的開關,用可控硅串聯(lián)即可實現(xiàn)。
可控硅是以“小控制大”的功率開關器件,用一個小的控制電流控制門極完成電路中電流控制作用,具有體積小、重量輕、低功耗、長壽命等優(yōu)點。為了降低串聯(lián)的可控硅數量,應盡可能地選取耐壓較高的可控硅,同時綜合考慮價格因素。我們選取了意法半導體(ST)的可控硅TYNl225,單管耐壓可達l 200V,且價格便宜。
本文通過脈沖變壓器隔離控制28個串聯(lián)可控硅(TYNl225),得到了 20 kV小電流開關,對固體開關的串聯(lián)技術進行了試驗研究,并討論了串聯(lián)電路所涉及到的觸發(fā)信號的高壓隔離技術、驅動信號同步技術以及功率器件的動態(tài)靜態(tài)均壓技術。實驗電路如圖1所示。
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1 串聯(lián)開關的驅動(控制)電路
為保證同步觸發(fā),系統(tǒng)中所有開關的觸發(fā)信號必須來自同一個信號源。 手冊給出使TYNl225導通的門極閾值電壓Vgt低于1.5V,閾值電流Igt低于40mA。它可直接用變壓器觸發(fā),不需額外的驅動電路。當撤掉晶閘管門極觸發(fā)信號后,要使它保持導通,流經它的電流必須大于某個值,這個值就是它的維持電流。在本實驗中晶閘管導通時,電流最高僅為1mA,低于TYN1225的維持電流(幾十個mA),因此采取的方式是觸發(fā)信號到來之后始終加一直流電壓在它的門極來驅動保持其導通。
本實驗的控制信號由信號發(fā)生器提供,信號發(fā)生器輸出50 kHz的方波,經過功率MOSFET/IGBT驅動芯片IXDN414得到同頻率的驅動信號來驅動MOSFET APT10026,隨著APTl0026的通斷,變壓器的初級上產生近似方波的信號,由于變壓器各個次級繞組完全一致,所以,在次級得到一致的多個信號來控制串聯(lián)的可控硅同步導通。
IXDN414是lXYS公司出品的高速MOSFET/IGBT門極驅動器,它的輸入兼容TTL與CMOS信號。本設計中通過凋節(jié)信號發(fā)生器的輸出方波的幅度來控制IXDN414的輸出。當信號發(fā)生器輸出的方波幅值存IXDN414輸入端的低電平范圍內時,IXDN414的輸出始終為低電平;調節(jié)信號發(fā)生器,使輸出幅值進入IXDN414輸入端的高電平范圍,IXDN414便輸出50 kHz的方波信號,此信號驅動APT10026,變壓器的初級上便有了圖2所示的驅動信號。
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2 變壓器設計
在脈沖變壓器隔離控制的可控硅固體開關中,變壓器的設計非常重要,要求次級信號嚴格一致。當變壓器初級有了圖2所示的方波信號時,由于變壓器的漏感漏電容的存在,次級繞組的電壓波形如圖3所示,它與圖2有稍許差異。當它經橋堆整流時,在每個橋臂上均會產生一定壓降,經過晶閘管門極限流電阻后,可控硅門極的電壓不到1 V(對陰極),實驗證明這個電壓能很好地促使可控硅保持導通。
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為了保證驅動信號的一致性,應盡量減少各種分布參數的影響。選取合適的磁芯,減少變壓器繞組匝數是一種方法。選取μr較大的磁芯,這樣單匝線圈的電感量比較大,就可以減少繞組匝數。我們設汁的變壓器處、次級匝數比為4:1,初級有4匝,因而次級只用了l匝。實驗證明這樣非常好地保證了次級繞組的一致性,同時由于線圈的減少也有效地控制了變壓器的體積。變壓器的初級電感量必須足夠大,如果感抗太小,遠低于負載等效阻抗,可以看作近似短路,將會燒毀前面的APT10026。實際制作的變壓器初級電感Lp在50kHz時大約為600μH。不考慮漏感等影響因素,感抗ωLp=2π50k600μH=60πΩ。
當可控硅導通不一致時,會出現(xiàn)一種情況:高壓源直接加于變壓器的兩組次級繞組上。這就要求變壓器初級和次級間、各次級相互之間均能夠承受足夠高的電壓。本文將變壓器任意兩個次級繞組間耐壓設汁為21 kV,可以承受電源最大電壓,這就保證了變壓器不會被擊穿。
3 可控硅的串聯(lián)與實驗結果
實驗原理如圖4所示,串聯(lián)的可控硅用兩個開關SW1和SW2表示,首先,控制器控制SW0閉合,SW1和SW2斷開,高壓直流電壓源HV對電容C1充電;然后控制器斷開SW0,閉合SW1和SW2,電容C1對負載Rl與R1放電。這樣在控制器的控制下,就可以周期地對C1充放電。R1遠小于Rl,起分壓作用,便于測量波形。SW1和SW2導通時,R1上的電壓波形特征即反映了開關導通特性。
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要得到耐壓20kV的開關,其電流約l mA。TYNl225的通態(tài)平均電流可達16A,完全滿足開關對電流的要求,我們要做的是將多個TYNl225串聯(lián)起來提高耐壓??紤]到降額使用,每個管子的工作電壓取其標稱值的60~70%,再加上串聯(lián)系統(tǒng)中的冗余設計,串聯(lián)管子的數量應適當增加。
實驗時,沒有沒置原理圖中的SW0、R0和C1等組件,用高壓直流電源直接加于串聯(lián)的可控硅及負載電阻的兩端,略去了R1,直接用高壓探頭測量RL上電壓波形。測量了串聯(lián)開關單次導通時負載電阻RL上的電壓波形。
圖1中Rp為靜態(tài)均壓電阻,Ds、Rs、Cs構成動態(tài)均壓網絡。由于阻斷狀態(tài)下各可控硅的阻斷電阻存在較大差異,Rp的作用就是在正向阻斷狀態(tài)下,完成各可控硅的直流均壓,要求其阻值遠小于開關管的泄漏電阻,同時兼顧其功耗。實際使用中,也并非所有管子的Rp都完全同樣大小,必要時應該在實驗中根據每只管子的性能差異進行合理地調整。同時,又因為可控硅工作在開關狀態(tài),增加了出現(xiàn)電壓不均現(xiàn)象的可能性,特別是開通和關斷的時間不一致,最后開通或關斷的管子將獨自承受高壓。動態(tài)均壓網絡可以用來解決電壓不均問題,實質上就是利用電容Cs兩端電壓不能突變的特性使得每只管子所承受的瞬態(tài)電壓分配均勻。因此要求Cs的值比可控硅陽極和陰極間的結電容大得多。
如圖1所示,變壓器次級接全橋整流電路,每個橋臂均采用超快恢復二極管UF4007,整流橋后接電容C2-1到C2-28濾波。電容C2-1到C2-28需要取一個合適的值。當取值太小時,在可控硅的門極得不到足夠大的驅動電壓使其導通;取值太大時,由于電容本身固有的誤差較大,很難保證其值大小完全相同,會導致可控硅門極電壓上升時間不一致,也就使可控硅不能一致導通。
實驗中,先在低壓電源下測試串聯(lián)可控硅的導通一致性。首先運用少量可控硅串聯(lián)進行實驗,以獲取導通時的負載波形。8個管子串聯(lián),濾波電容C2取10μF,觸發(fā)信號到來之后,圖5(a)為負載電阻上的電壓波形,可以明顯地看出可控硅的導通嚴重不一致,從開始導通到完全導通用時超過了7μs;電容取O.1μF后,管子能很好地一致導通,如圖5(b)所示。
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將28個可控硅串聯(lián)起來,逐步抬高電源電壓值進行測試。串聯(lián)的可控硅均能很好地導通,隨著電源電壓的抬高,其上升時間也會逐漸降低。當HV=20kV時,觸發(fā)信號使能后,負載電阻RL上的電壓波形如圖6所示,示波器記錄上升時間Tr=164.8 ns,低壓375V系未導通時電源電壓HV在負載RL的分壓,靜態(tài)時的漏電流很小,I漏=375/20MΩ=18.75μA。
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4 結語
本文成功地進行了多個可控硅串聯(lián)作20 kV開關的實驗。實驗結果表明,用多個普通可控硅串聯(lián)起來作低成本、低頻率的高壓開關是可以實現(xiàn)的。今后將在開關的可靠性方面做更大的努力,并研究通過光隔離控制多個串聯(lián)的功率開關,設計出更高電壓的大功率同體開關,并用單片機或PC機取代實驗中所用的信號發(fā)生器來實現(xiàn)程控開關功能。
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