消費類音視頻SoC的測試(04-100)

　　ADC塊需要任意波形發(fā)生器(Arb)和數(shù)字通道，數(shù)字通道處于捕獲模式來采集與分析ADC的輸出。DAC則需要多個數(shù)字通道組成的端口，用數(shù)字源存儲器(DSM)或波形存儲器段以及波形數(shù)字化儀來測試。每個端口能自動地工作在不同的測試頻率，執(zhí)行不同的序列指令。

　　由于測試系統(tǒng)已在每個引腳基礎(chǔ)上進行分段，通過復(fù)制測試矢量的映象和每測試點使用的引腳上序列，應(yīng)用軟件能自動地管理絕大部分多測試點的控制。

　　并發(fā)測試是多端口測試的擴充，讓這些芯核并行地進行測試。當然，器件中每個芯核應(yīng)是ATE系統(tǒng)可獨立地訪問和控制的，能獨立工作的。將每個器件芯核串行測試的純序列流修改為多個器件芯核并行測試的序列流，能大大減少測試執(zhí)行時間(圖3)。

　　在大規(guī)模器件(如無線基帶SoC處理器)中，有無數(shù)個模擬芯核，并行地測試這些芯核需要大量的模擬資源。若按4個測試點，全并行、并發(fā)測試式計算，需提供28個數(shù)字化儀，這在當前的ATE系統(tǒng)中還難以實現(xiàn)。

　　一種新型模塊體系結(jié)構(gòu)

　　測試當前消費品器件中使用的各種模擬芯核，需要高度并行，低開銷的解決方案。若在每個模塊中組合幾個模塊功能，能相應(yīng)地減少每個模擬模塊的占用空間，這樣，就有更多的空間留給必需的數(shù)字模塊。一個內(nèi)置8個獨立Arb或數(shù)字化儀單元的模塊具有靈活地配置的優(yōu)點：或只用作數(shù)字化儀單元，或是數(shù)字化義與Arb單元的組合。

　　降低消費類器件測試的COT不僅要解決ATE測試系統(tǒng)的并行測試方案，還要減少并行測試帶來的ATE開銷。多芯核是當前SoC消費類器件的主要特征，在對ATE硬件進行體系結(jié)構(gòu)改進時同樣要考慮上面兩個因素，這樣才能得到最佳的測試解決方案?！?東華)