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          連續(xù)時(shí)間Sigma-Delta模/數(shù)轉(zhuǎn)換器(下)

          作者:Scott D. Kulchycki 美國國家半導(dǎo)體 時(shí)間:2008-06-17 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            即使如此,CTΣΔ的抗混疊性能也不應(yīng)被過份夸大,因?yàn)榭够殳B的要求是取決于不同的應(yīng)用,而且它可能同時(shí)對(duì)設(shè)計(jì)復(fù)雜度、系統(tǒng)大小和成本構(gòu)成一定的壓力。正如之前討論過,通過將采樣率提升到所需輸入帶寬的兩倍以上,便可放寬流水線或其它奈奎斯特率模/數(shù)對(duì)抗混疊的要求,但這會(huì)浪費(fèi)帶寬并降低系統(tǒng)的整體能效。一個(gè)模擬抗混疊濾波器設(shè)計(jì)會(huì)存有陡斜的中斷特性,因此要達(dá)到一個(gè)非常平整的通帶是一項(xiàng)非常艱巨的任務(wù),這要求高階和高插入損耗的濾波器網(wǎng)絡(luò),因而必須增大信號(hào)路徑中的增益以補(bǔ)償該損耗。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/84347.htm

            通過消除采樣輸入模/數(shù)所需的附加過采樣,使得CTΣΔ能讓系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員使用差不多所有的奈奎斯特帶寬,從而大大改善電源效率。此外,由于可免除使用昂貴的外加抗混疊濾波器,使得ADC12EU050能降低對(duì)模/數(shù)轉(zhuǎn)換器驅(qū)動(dòng)器的需求,進(jìn)一步簡(jiǎn)化了系統(tǒng)設(shè)計(jì)的復(fù)雜性和降低整體的成本和功耗。

            低噪聲并易于驅(qū)動(dòng)的輸入
            CTΣΔ模/數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸入噪音比采樣輸入模.數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸入噪音更低,這主要?dú)w功于內(nèi)置電路的CT。在一個(gè)流水線或傳統(tǒng)的DTSD采樣輸入模/數(shù)轉(zhuǎn)換器中,其輸入級(jí)均包含有一個(gè)通常較大的開關(guān)電容器,以用來削減模/數(shù)轉(zhuǎn)換器的整體熱噪聲。驅(qū)動(dòng)這個(gè)大的開關(guān)電容器并不容易,尤其對(duì)DTSD模/數(shù)轉(zhuǎn)換器來說,因?yàn)樗鼈兊恼{(diào)制器是以輸出數(shù)據(jù)率的幾倍速度來進(jìn)行采樣。此外,來自這些輸入的較大開關(guān)噪聲可以耦合到系統(tǒng),導(dǎo)致系統(tǒng)的整體性能下降。另外,可以施加到開關(guān)電容輸入的輸入電壓也會(huì)因輸入的采樣開關(guān)之柵極源級(jí)電壓而受到限制。與SC采樣輸入相反,CTΣΔ技術(shù)可展現(xiàn)出一個(gè)穩(wěn)定的電阻性輸入,正如圖5中所示。


          圖5  CTSD模/數(shù)轉(zhuǎn)換器輸入的模型

            由于CTΣΔ的輸入沒有被采樣,所以無需使用開關(guān)電容器,而且輸入也比較容量驅(qū)動(dòng),因此可使用較經(jīng)濟(jì)的較低功耗驅(qū)動(dòng)電路。此外,沒有了輸入開關(guān)損耗可減少耦合到系統(tǒng)的噪聲,改善系統(tǒng)的整體性能。最后,在輸入處沒有任何的開關(guān)便不會(huì)對(duì)輸入電壓的擺幅造成限制,使得輸入電壓范圍能夠比SC采樣輸入模/數(shù)轉(zhuǎn)換器的來得更高,而真實(shí)上,這輸入電壓有時(shí)甚至可超越電源軌。

            低抖動(dòng)路可提供精確的
            一個(gè)低抖動(dòng)的對(duì)于所有高速和高分辨率的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換系統(tǒng)來說都是非常重要,因?yàn)楸仨氁揽克拍苡帽M模/數(shù)轉(zhuǎn)換器的最高分辨率。美國國家半導(dǎo)體的ADC12EU050中的調(diào)制器過負(fù)責(zé)驅(qū)動(dòng)其內(nèi)部SD環(huán)路的量化器。這時(shí)鐘是由一個(gè)片上時(shí)鐘調(diào)整器所提供,其包含有一個(gè)路(PLL)和壓控振蕩器(VCO)。這個(gè)高性能的PLL使用一個(gè)片上的LC調(diào)節(jié)電路來創(chuàng)建一個(gè)高Q值的諧振器。這個(gè)片上時(shí)鐘電路將頻率倍增并為調(diào)制器環(huán)路提供低抖動(dòng)的采樣邊沿,以便CTΣΔ模/數(shù)轉(zhuǎn)換器能在無需高性能和高成本的外置時(shí)鐘源下發(fā)揮出其優(yōu)點(diǎn)。系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員只需在所需的輸出采樣率(40到50MSPS)下提供一個(gè)中等品質(zhì)的低成本晶體,其它的事便可由ADC12EU050的片上時(shí)鐘電路來處理。

            片上高精度時(shí)鐘的另一優(yōu)點(diǎn)是其可路由到外置電路,并作為一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘供給系統(tǒng)其它與時(shí)間有關(guān)的零件使用,這樣便可節(jié)省一個(gè)低抖動(dòng)時(shí)鐘源的額外成本,并減輕設(shè)計(jì)的工作量和節(jié)省電路板的空間。

            即時(shí)過載恢復(fù)
            由于SD調(diào)制器是一個(gè)反饋環(huán)路,它們很容易在遇到大輸入信號(hào)時(shí)發(fā)生過載。對(duì)于一個(gè)典型的SD調(diào)制器來說,這種過載可能需要重置環(huán)路,但這卻會(huì)使前存儲(chǔ)在環(huán)路中的數(shù)據(jù)流失,并且會(huì)導(dǎo)致在模/數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸出出現(xiàn)大毛刺。如果不重置環(huán)路,其實(shí)可讓調(diào)制器繼續(xù)運(yùn)作,以容許過載情況自行離開環(huán)路,但這可能需要等待幾個(gè)時(shí)鐘周期,而期間模/數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸出數(shù)據(jù)就有可能被損毀。

            ADC12EU050包含有即時(shí)過載恢復(fù)特性。當(dāng)這個(gè)即時(shí)過載恢復(fù)(IOR)功能被啟動(dòng)時(shí),模/數(shù)轉(zhuǎn)換器可在輸入過載的情況下維持信號(hào)的完整性,甚至可比流水線模/數(shù)轉(zhuǎn)換器更快地恢復(fù)過來。
            
            可隨技術(shù)發(fā)展而不斷改進(jìn)
            最后,CTΣΔ技術(shù)可隨著未來的技術(shù)而不斷改進(jìn),以長期確保其在模/數(shù)轉(zhuǎn)換器市場(chǎng)中的地位。正如上文所述,CTΣΔ的采樣工作是在環(huán)路濾波器的輸出處發(fā)生,故此可大大降低采樣誤差對(duì)性能的影響。相反對(duì)于流水線或DTSD采樣輸入模/數(shù)轉(zhuǎn)換器來說,其采樣工作是發(fā)生在模/數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸入,因此任何的采樣錯(cuò)誤都會(huì)構(gòu)成很大的影響。因此,CTΣΔ模/數(shù)轉(zhuǎn)換器將更加適應(yīng)未來的CMOS工藝。未來的工藝會(huì)帶來更小的過驅(qū)、泄漏或其它的效應(yīng),這都會(huì)影響采樣電路性能的發(fā)揮,而采用電路的性能影響對(duì)流水線、DTSD和其它采樣輸入模/數(shù)轉(zhuǎn)換器來說,遠(yuǎn)比CTΣΔ模/數(shù)轉(zhuǎn)換器來得更深遠(yuǎn)。

          結(jié)語

            美國國家半導(dǎo)體ADC12EU050模/數(shù)轉(zhuǎn)換器的面世為CTΣΔ模/數(shù)轉(zhuǎn)換器帶來性能上的大躍進(jìn)。幾經(jīng)40余年,美國國家半導(dǎo)體終于率先成功地將CTΣΔ技術(shù)從實(shí)驗(yàn)室轉(zhuǎn)移到生產(chǎn)線上。ADC12EU050模/數(shù)轉(zhuǎn)換器比起同類的流水線模/數(shù)轉(zhuǎn)換器節(jié)省了30%的功率,而且可以以高于現(xiàn)行最快的DTSD模/數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸出率來提供12位的分辨率。

            ADC12EU050所采用的CTΣΔ技術(shù)具有優(yōu)秀的先天抗混疊功能,低噪聲,并且輸入級(jí)易于驅(qū)動(dòng)。為了完全發(fā)揮CTΣΔ技術(shù)的長處,ADC12EU050還包含有一個(gè)片上時(shí)鐘調(diào)整器,可以避免使用高性能高成本的時(shí)鐘。最后,ADC12EU050由于可即時(shí)從一個(gè)輸入過載事件中恢復(fù),因此不會(huì)發(fā)生SD模/數(shù)轉(zhuǎn)換器中常見的輸入過載。

            除了ADC12EU050以外,美國國家半導(dǎo)體正開發(fā)更多的CTΣΔ模/數(shù)轉(zhuǎn)換器以供100MSPS以下采樣率的高分辨率應(yīng)用。隨著CTΣΔ技術(shù)的升級(jí),預(yù)料會(huì)有愈來愈多的這類模/數(shù)轉(zhuǎn)換器應(yīng)用領(lǐng)域?qū)⒃絹碓綇V。美國國家半導(dǎo)體在CTΣΔ模/數(shù)轉(zhuǎn)換器上的知識(shí)積累確保了其在這領(lǐng)域的優(yōu)勢(shì)地位。

          參考文獻(xiàn):

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            4.   J. C. Candy, “An Overview of Basic Concepts,” in Delta-Sigma Data Converters, S. R. Norsworthy, R. Schreier, and G. C. Temes, Eds. Piscataway, NJ: IEEE Press, 1997, pp. 1-43.
            5.  S. R. Norsworthy and R. E. Crochiere, “Decimation and Interpolation for Δ∑ Conversion,” in Delta-Sigma Data Converters, S. R. Norsworthy, R. Schreier, and G. C. Temes, Eds. Piscataway, NJ: IEEE Press, 1997, pp. 406-446.


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