信源/器件測(cè)試儀實(shí)現(xiàn)更快速及更智能化

　由Keithley公司提供的SourceMeter 2600系列測(cè)試儀，旨在降低硅芯片與化合物半導(dǎo)體等電子器件廠家的測(cè)試成本。據(jù)該公司稱，該系列測(cè)試儀將具有行業(yè)最高吞吐量的信源－測(cè)量裝置 (SMU) ，其尺寸可變，可無縫集成到包含1~16個(gè)SMU通道的系統(tǒng)中。售價(jià)5495美元的單通道2601型與售價(jià)7995美元的雙通道2602型測(cè)試儀，能使用戶配置成可完成精密直流、脈沖及低頻交流測(cè)試的可升級(jí)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE) 系統(tǒng)。
　　據(jù)Keithley公司官員介紹，該系列測(cè)試儀可提供優(yōu)于其他競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品2~4倍的吞吐量。由于Keithley測(cè)試儀包含一個(gè)嵌入式測(cè)試原程序處理器 (TSP)，故用戶能對(duì)測(cè)試命令進(jìn)行編程，并執(zhí)行獨(dú)立于PC操作系統(tǒng)的高速自動(dòng)測(cè)試順序。不像一些缺少這種測(cè)試順序能力、或只能先排隊(duì)再執(zhí)行命令的產(chǎn)品，2600系列測(cè)試儀可作為一種集信源、測(cè)量、做出通過/失敗決策、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及測(cè)試順序流控制與排列等功能于一身的獨(dú)立、全自動(dòng)及1個(gè)~16個(gè)通道的組合測(cè)試儀器。其應(yīng)用包括三端器件測(cè)試、并行器件測(cè)試、光－電壓－電流 (L-I-V) 掃描與雙端器件測(cè)試等。靈活的觸發(fā)與順序流控制能力使TSP能通過數(shù)字I/O及RS-232端口來控制其他儀器、元件處理器及探頭等。
　　每個(gè)通道都能提供帶精確電壓與電流回讀及1pA分辨率的40W、3A、精密、四象限SMU，設(shè)計(jì)人員可將其配置成一個(gè)精密電源、電流源、雙極偏置源、5位半數(shù)字萬用表 (DMM)、帶度量的任意波形發(fā)生器或電子負(fù)載等。100Mbps TSP-Link串行總線可連接多達(dá)16個(gè)單元而無需集線器或笨重的電纜。該協(xié)議還針對(duì)短消息優(yōu)化，使其在SMU之間的通信速度大大高于以太網(wǎng)的速度。
　　該系列測(cè)試儀還具有Test Script Builder應(yīng)用開發(fā)軟件，其直觀的圖形用戶界面 (GUI) 使您能開發(fā)、修改及調(diào)試高速TSP程序。每個(gè)裝置都帶有一套內(nèi)置預(yù)編TSP程序，從而能快速修改特定應(yīng)用程序。LabTracer 2.0版軟件便于在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行器件特性測(cè)試時(shí)執(zhí)行儀器控制、數(shù)據(jù)采集與曲線描跡。
　　網(wǎng)址：www.keithley.com

2600系列測(cè)試儀在一個(gè)2U、半機(jī)架機(jī)箱中提供了廠家自稱為行業(yè)最高機(jī)架密度的SourceMeter型測(cè)試儀器。

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