邊界掃描與處理器仿真測(cè)試(05-100)

　　同一個(gè)邊界掃描口可用于兩種測(cè)試方法,使結(jié)構(gòu)性測(cè)試與功能性測(cè)試之間的交換是無(wú)縫的。且從上面的論述可知,掃描測(cè)試和仿真測(cè)試是相輔相成的。例如存儲(chǔ)器件即可使用邊界掃描,也可使用處理器基仿真,但只有前者能驗(yàn)證存儲(chǔ)器件之間的結(jié)構(gòu)性互連。另一方面,仿真測(cè)試是按實(shí)際工作頻率全速進(jìn)行的,且能驗(yàn)證裝載的軟件版本,保證電路板是在自己的軟件引導(dǎo)下工作的?？傊?使用組合方法就可優(yōu)化測(cè)試覆蓋范圍,縮短研發(fā)周期。

　　在一個(gè)系統(tǒng)中組合兩種測(cè)試技術(shù),還能更廣泛應(yīng)用在產(chǎn)品生存期的各個(gè)階段。過(guò)去,邊界掃描通常部署在產(chǎn)品的研發(fā)階段,用它來(lái)糾錯(cuò)原型電路板,在組裝和生產(chǎn)階段來(lái)確定并診斷結(jié)構(gòu)性缺陷。處理器仿真則廣泛地用作功能性測(cè)試,幫助現(xiàn)場(chǎng)維修人員糾錯(cuò)并診斷有故障的微處理器板。具有兩種技術(shù)的組合測(cè)試平臺(tái)讓兩種測(cè)試技術(shù)用于過(guò)去無(wú)法使用的產(chǎn)品生存期的各個(gè)階段。例如,邊界掃描也可用于生產(chǎn)階段有故障電路板的維修,在追尋有問(wèn)題系統(tǒng)的原因時(shí),它也是仿真測(cè)試的輔助手段。

　　結(jié)語(yǔ)

　　由于電路板的多樣性,任何一種測(cè)試方法都很難提供滿意的測(cè)試覆蓋范圍。將互補(bǔ)的測(cè)試方法組合在一起,就有可能增加測(cè)試覆蓋范圍。然而隨之而來(lái)的問(wèn)題是,哪些測(cè)試方法更有利于組合。選擇邊界掃描測(cè)試和處理器仿真測(cè)試是因?yàn)閮烧叨寄苁褂肑TAG接口。更重要的是,它們的功能是相輔相成的。邊界掃