負(fù)載功率監(jiān)控提升高端電流測(cè)量性能(08-100)
—— 負(fù)載功率監(jiān)控提升高端電流測(cè)量性能
作者：Maurizio Gavardoni 美信集成產(chǎn)品公司
時(shí)間：2009-02-27
來(lái)源：電子產(chǎn)品世界
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電流測(cè)量的整體精度取決于很多因素: 電阻精度、放大器的增益誤差、電壓失調(diào)和偏置電流，基準(zhǔn)電壓的精度、ADC誤差以及上述因素的溫漂。本文提到的電路僅僅消除了其中一個(gè)因素(基準(zhǔn)電壓精度)的影響。VREF至少受三個(gè)誤差源的影響：
本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/91865.htm* 初始直流誤差(以標(biāo)稱值的百分比表示);
* VREF隨負(fù)載的變化;
* VREF隨溫度的變化。
圖2曲線是VCC = 5V，VSENSE固定為100mV時(shí)，乘法器輸入(IN)隨溫度的變化關(guān)系，由此可以看出溫度對(duì)基準(zhǔn)電壓的影響。圖3給出了POUT/VIN隨溫度的變化關(guān)系與其理想線性特性、IOUT/VIN隨溫度的變化關(guān)系與其理想線性特性的差別。
圖2 VIN隨溫度變化關(guān)系(圖1電路)
圖3 POUT/VIN 和IOUT/VIN隨溫度的變化，采用圖1電路，VSENSE = 100mV
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