基于時(shí)域反射和傳輸?shù)腟參數(shù)測(cè)量(07-100)
引言
本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/92049.htm在頻域、時(shí)域、阻抗域三種電學(xué)基本特性測(cè)試測(cè)量儀器中,以阻抗域測(cè)試測(cè)量儀器所用電路結(jié)構(gòu)最復(fù)雜、測(cè)試操作最費(fèi)時(shí)間、成套價(jià)格最高。目前能夠供應(yīng)GHz級(jí)阻抗域測(cè)試測(cè)量儀器的公司亦為數(shù)不多,特別是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)只有安捷倫、安立、羅德施瓦茨等幾家公司生產(chǎn)。VNA的最高帶寬達(dá)到65GHz,前端使用變頻器可將帶寬擴(kuò)大至120GHz,成套售價(jià)在二十萬美元以上。
我們知道,任何電子元器件都可用二端或四端網(wǎng)絡(luò)來表征,所用參數(shù)有Z(阻抗)、Y(電導(dǎo))、H(混合)和S(散射),由于Z、Y、H參數(shù)的測(cè)量都涉及開路、短路條件,這些條件在GHz頻段不易實(shí)現(xiàn),因此VNA測(cè)量的是阻抗匹配條件下的S參數(shù)。在十年前一些測(cè)試測(cè)量專家試圖從時(shí)域—頻域特性測(cè)量入手,通過快速傅立葉函數(shù)變換將幅度—時(shí)間特性變成分立的幅度—頻率特性,在此基礎(chǔ)上推導(dǎo)出S參數(shù)。整個(gè)測(cè)試過程和測(cè)量條件與直接測(cè)量S參數(shù)相同,只是激勵(lì)源從掃頻發(fā)生器改為階躍脈沖發(fā)生器,從時(shí)域反射(TDR)和時(shí)域傳輸(TRT)參數(shù)導(dǎo)出S參數(shù)。
最簡單的一個(gè)物理同軸線連接點(diǎn)的二端口S散射矩陣見表達(dá)式(1),它是由輸入端口和輸出端口的入射波和反射波來定義的四個(gè)Sij參數(shù)。每個(gè)端口的電壓V和電流I分別由入射波V+、I+和反射波V-、I-組成,即V=V++V-和I=I++I-。從表達(dá)式(1)和圖1a可知,S11是輸入端口電壓反射系數(shù),S12是反向電壓增益,S21是正向電壓增益,S22是輸出端口電壓反射系數(shù)。全部S參數(shù)都是在同軸線的輸入和輸出阻抗匹配的條件下獲得的。
1a 二端口網(wǎng)絡(luò)
1b 四端口網(wǎng)絡(luò)
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評(píng)論