R&S總裁強(qiáng)調(diào)LTE終端認(rèn)證測試不容忽視

　　2月18日，在巴塞羅納的2009年移動(dòng)通信世界大會(huì)期間，羅德與施瓦茨公司（R&S)總裁兼首席運(yùn)營官萊赫先生參加了由中國移動(dòng)，沃達(dá)豐，Verizon無線主辦的“全球LTE產(chǎn)業(yè)峰會(huì)”。作為測試儀表廠家的唯一代表，萊赫先生做了“LTE FDD和TDD(TD-LTE)終端認(rèn)證及測試解決方案“的公開演講。他首先回顧了終端認(rèn)證測試在保證GSM/WCDMA成功運(yùn)營過程中的經(jīng)驗(yàn)，強(qiáng)調(diào)了終端認(rèn)證測試應(yīng)成為LTE未來成功發(fā)展的重要基礎(chǔ)，介紹了R&S公司在LTE國際標(biāo)準(zhǔn)化中所做出的貢獻(xiàn)，尤其是在3GPP, GCF, LSTI, NGMN等組織發(fā)揮的積極作用。同時(shí)討論了LTE成功商用過程中還需要進(jìn)一步完善的工作。詳細(xì)介紹了R&S公司領(lǐng)導(dǎo)LTE的測試解決方案，以及公司將在LTE未來發(fā)展中的產(chǎn)品規(guī)劃。這一發(fā)言充分顯示了R&S公司對LTE發(fā)展的突出貢獻(xiàn)，以及對LTE未來發(fā)展的信心。

　　來自全球超過200名LTE產(chǎn)業(yè)界的高層領(lǐng)導(dǎo)參加了這次會(huì)議。在與會(huì)發(fā)言當(dāng)中，充分展示了全球最大運(yùn)營商對LTE發(fā)展及試驗(yàn)的承諾和清楚的發(fā)展路標(biāo)，以及未來LTE FDD和TDD單芯片的終端前景。關(guān)鍵的完整產(chǎn)業(yè)鏈的發(fā)展，具有眾多廠商和運(yùn)營商支持的良好產(chǎn)業(yè)生態(tài)前景。發(fā)言同時(shí)充分表達(dá)了全球終端認(rèn)證的重要基礎(chǔ)性作用。