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          電磁兼容外場測試中的干擾抵消技術(shù)(下)*

          ——
          作者:葛壽兵 中國電子科技集團(tuán)公司第23研究所 龔成 中國電子科技集團(tuán)公司第50研究所 時間:2009-05-22 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

            采用M個陣元的自適應(yīng)線陣,它的方向圖函數(shù)可表示為:

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/94656.htm

            (16)

            式中wi為各陣元的復(fù)加權(quán)系數(shù);d為相鄰單元間距。

            圖6給出了當(dāng)自適應(yīng)陣列方向圖最大增益指向q=0o的被測信號方向,方向圖零深對準(zhǔn)q=q1的干擾信號方向,則測試點(diǎn)處的被測信號與干擾信號的幅度比為:

            (17)

            如果SIR高于15dB,則進(jìn)入頻譜儀的干擾信號幅度遠(yuǎn)小于被測信號,即可以忽略干擾信號的對測試結(jié)果的影響。



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