NI成功主辦第六屆 “中國(guó)PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇”

　　美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI)宣布在中國(guó)北京成功主辦第六屆 “中國(guó)PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇” (PXI Technology & Application Conference，即PXI TAC)。近600位相關(guān)領(lǐng)域的工程師和技術(shù)人員到場(chǎng)參加會(huì)議。除了主辦商NI以外，八家國(guó)內(nèi)外知名的PXI供應(yīng)商如 Aeroflex、MAC Panel、VPC、Pickering，凌華科技以及北京中科泛華，上海聚星儀器，陜西海泰向到會(huì)觀眾展示了最新基于PXI的產(chǎn)品和解決方案。本屆活動(dòng)還特地邀請(qǐng)到了PXI系統(tǒng)聯(lián)盟技術(shù)委員會(huì)主席暨NI研發(fā)總部首席工程師Mark Wetzel先生和清華大學(xué)汽車(chē)研究所副所長(zhǎng)盧青春教授為此次會(huì)議作開(kāi)幕主題演講。

圖1-觀眾聽(tīng)講

　　去年P(guān)XI TAC盛會(huì)提出的以軟件為核心的模塊化系統(tǒng)架構(gòu)，順應(yīng)了主流的市場(chǎng)發(fā)展趨勢(shì)，已經(jīng)得到業(yè)內(nèi)廣泛的認(rèn)可;今年，作為測(cè)試測(cè)量行業(yè)的領(lǐng)導(dǎo)者，NI基于該架構(gòu)進(jìn)一步展望了2009自動(dòng)化測(cè)試的應(yīng)用發(fā)展趨勢(shì)，包括多核技術(shù)下的并行測(cè)試; 基于FPGA的自定義儀器設(shè)計(jì); 基于軟件無(wú)線電的射頻測(cè)試; 協(xié)議感知(Protocol-Aware)的半導(dǎo)體驗(yàn)證與測(cè)試等，同時(shí)進(jìn)一步將PXI平臺(tái)的應(yīng)用從測(cè)試領(lǐng)域延伸至控制、設(shè)計(jì)等領(lǐng)域?，F(xiàn)場(chǎng)整個(gè)會(huì)議的技術(shù)演講與產(chǎn)品展示中都體現(xiàn)了這五大趨勢(shì)的應(yīng)用。