復(fù)雜RF環(huán)境下的RFID測試挑戰(zhàn)

　　隨著設(shè)備價(jià)格的下降及全球市場擴(kuò)大，RFID應(yīng)用正面臨飛速發(fā)展。嵌入式RFID的使用量不斷提高，隨著泛在ID中心(Ubiquitous ID Center)和T引擎論壇(T-Engine Forum)等協(xié)調(diào)性機(jī)構(gòu)的形成，GSM協(xié)會(huì)現(xiàn)已支持將基于RFID的近場通信技術(shù)運(yùn)用于手機(jī)中。

　　RFID的一大挑戰(zhàn)是在復(fù)雜的、甚至苛刻的RF環(huán)境中優(yōu)化吞吐量或數(shù)據(jù)讀取速度。無源RFID標(biāo)簽可以對(duì)射頻范圍內(nèi)的任何一個(gè)或多個(gè)閱讀器做出反應(yīng)。協(xié)議中規(guī)定了這些通信的行為，但在實(shí)際的通信過程中,如果沒有適當(dāng)?shù)脑O(shè)備，則很難對(duì)其進(jìn)行測試。此外，在集成到采用蜂窩技術(shù)、WLAN、藍(lán)牙或Zigbee技術(shù)的同一臺(tái)設(shè)備中時(shí)，也需要運(yùn)行嵌入式RFID系統(tǒng)。最后，必須考慮同一頻段中其它用戶發(fā)出的干擾。

　　其結(jié)果是，在部署前就有必要仿真復(fù)雜的RF環(huán)境，并分析RFID系統(tǒng)在這些條件下的性能。RFID的脈沖式特點(diǎn)和典型的干擾源令測試任務(wù)變得更富挑戰(zhàn)性。

　　RFID技術(shù)概述

　　最簡單的RFID系統(tǒng)由一個(gè)標(biāo)簽(可以是無源標(biāo)簽)和一個(gè)閱讀器組成。從結(jié)構(gòu)上看，無源標(biāo)簽的讀取與傳統(tǒng)全雙工數(shù)據(jù)鏈路略有不同。與傳統(tǒng)有源數(shù)據(jù)鏈路不同的是，無源標(biāo)簽依賴其收到的RF能量為自身供電。無源標(biāo)簽同樣不會(huì)生成自己的傳送載波信號(hào)，而是調(diào)制詢問器發(fā)送到標(biāo)簽的部分能量，這一過程稱為反向散射。

　　通過把標(biāo)簽的天線負(fù)荷從吸收負(fù)荷改變?yōu)榉瓷湄?fù)荷，可以調(diào)制來自詢問器的連續(xù)波 (CW) 信號(hào)。這個(gè)過程與利用鏡子和陽光向遠(yuǎn)處某人發(fā)送信號(hào)的過程非常類似。此外，這樣還消除了標(biāo)簽中對(duì)高精度頻率來源和功率密集型發(fā)射機(jī)的需求。由于閱讀器和標(biāo)簽共享相同的頻率，它們必須輪流發(fā)送信息。因此，反向散射把閱讀器和標(biāo)簽之間的通信限定在半雙工系統(tǒng)上。