擴(kuò)頻時鐘發(fā)生器

擴(kuò)頻時鐘發(fā)生器

　　降低電磁干擾(EMI)是電子系統(tǒng)設(shè)計人員需要考慮的一個重要因素，擴(kuò)頻時鐘(CLK) 為降低EMI 提供了一個有效途徑。本文給出了擴(kuò)頻CLK 的定義和估算EMI 抑制性能的簡單公式。所提供的公式經(jīng)過Maxim CLK 發(fā)生器MAX9492 的數(shù)據(jù)驗證。

　　數(shù)字信號有兩種主要形式：數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)和數(shù)字是鐘(CLK)。

　　數(shù)字信號是當(dāng)前數(shù)字電子產(chǎn)品中的主要信號形式，通常為單端信號，CMOS 或TTL 電平。我們觀察到的數(shù)字信號一般是一串寬度不同的脈沖，時鐘信號通常是具有相同脈寬的矩形脈沖。

　　數(shù)字信號和CLK 信號的頻譜成份包含有高次諧波，信號本身及其諧波共同在電子系統(tǒng)內(nèi)部和系統(tǒng)之間產(chǎn)生了電磁干擾(EMI)。降低EMI 的一條簡單、有效途徑是使CLK 頻率產(chǎn)生抖動[1, 2]。本應(yīng)用筆記介紹了擴(kuò)頻CLK (MAX9492),并提供了一種利用時鐘參數(shù)指標(biāo)快速計算EMI 抑制的方法。

擴(kuò)頻CLK: 定義和測量

　　為了考察抖動時鐘的擴(kuò)展頻譜，我們定義了以下擴(kuò)頻CLK 參數(shù)：擴(kuò)展率、擴(kuò)頻類型、調(diào)制率和調(diào)制波形。擴(kuò)展率是頻率抖動(或擴(kuò)展)范圍與原CLK 頻率(fC)的比值。擴(kuò)頻類型指向下擴(kuò)頻、中心擴(kuò)頻或向上擴(kuò)頻。假設(shè)擴(kuò)頻范圍為Δf，則擴(kuò)展率 定義為：

　　向下擴(kuò)頻: = -Δf /fC x 100%

　　中心擴(kuò)頻:  =