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          TD-LTE規(guī)模發(fā)展受困協(xié)議測試儀表短缺

          作者: 時間:2009-09-02 來源:賽迪網(wǎng) 收藏

          又如很多廠商推出了信號源等物理層基礎(chǔ)設(shè)備。“但是能夠真正實(shí)現(xiàn)LTETDD協(xié)議的廠商還沒有。”程頤江表示。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/97710.htm

          目前泰克已經(jīng)完成了LTEFDD的解決方案K2Air,它的探頭支持混雜模式上行和下行監(jiān)測,可以在空中接口上同時監(jiān)測最多300臺UE。它把這些信息與固定LTE及傳統(tǒng)2G和接口上的數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)起來,可以端到端監(jiān)測網(wǎng)絡(luò)和網(wǎng)元性能。而針對LTEFDD的產(chǎn)品正在研發(fā)中,根據(jù)泰克的計劃,將在2010年第一季度推出,但這與中國移動此次招標(biāo)中提出的2010年1月份提供產(chǎn)品有差距,造成此次協(xié)議測試儀表招標(biāo)的失敗。

          測試廠商研發(fā)遲緩

          在國外廠商中,泰克算是走在研發(fā)前列的測試廠商,由于PP很多LTETDD的標(biāo)準(zhǔn)并不成熟,還需要在LTE-Advanced即R9版本中進(jìn)一步規(guī)范,因此很多廠商對于LTETDD仍持跟進(jìn)態(tài)度。

          安立戰(zhàn)略市場部經(jīng)理林學(xué)聰表示,LTETDD的標(biāo)準(zhǔn)目前仍不完善,目前仍處在跟進(jìn)狀態(tài)。

          陳曉宗認(rèn)為,對于LTE測試儀表的研發(fā)難點(diǎn)在于LTER8標(biāo)準(zhǔn)并沒有最終確定,在過去的一年中每3個月都會有一次更新,測試儀表廠商和設(shè)備開發(fā)商也會隨之相應(yīng)地更新,對于信息的同步以及共享都會有較高的要求。對于R8沒有涉及的一些內(nèi)容,R9中會有全面的描述,所以短期內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)不會有變化。

          “廠商對的態(tài)度仍處在保留狀態(tài),畢竟測試廠商是產(chǎn)業(yè)鏈的一個很小的環(huán)節(jié),盈利與否是測試儀表研發(fā)的關(guān)鍵,測試廠商研發(fā)產(chǎn)品先要看投資收益比。”林學(xué)聰表示,“而運(yùn)營商對測試產(chǎn)品的支持投資將成為關(guān)鍵。”

          這種情況在TD發(fā)展上體現(xiàn)的尤為突出。在《通信產(chǎn)業(yè)報》社舉辦的2009年通信網(wǎng)絡(luò)規(guī)劃優(yōu)化大會上,中國移動集團(tuán)公司網(wǎng)絡(luò)通信部通信組織處副經(jīng)理沈忱指出,TD網(wǎng)優(yōu)以及終端測試儀表的缺失阻礙了TD的發(fā)展。

          某測試儀表廠商則表示:“TD協(xié)議測試投入的研發(fā)成本很高,運(yùn)營商以及很多終端廠商都不肯為此支付昂貴的價格,所以抑制了測試廠商的研發(fā)興趣。”

          據(jù)記者調(diào)查了解,中國移動對TD的大規(guī)模投入,在很多測試廠商眼里并沒有產(chǎn)生“漣漪”。很多測試廠商只是試探地推出了相關(guān)的基礎(chǔ)解決方案,但很多核心儀表仍處空白。如TD協(xié)議測試儀表,目前只有電信研究院在國產(chǎn)廠商星河亮點(diǎn)產(chǎn)品的基礎(chǔ)上進(jìn)行改良,研發(fā)出一套方案。

          還需運(yùn)營商扶植

          近一兩年,中國移動TD和TD-LTE兩步走的策略確實(shí)吸引了測試廠商的目光,很多人認(rèn)為中國移動想跳過TD,直接在LTE上與其他兩大運(yùn)營商競爭,加大了對LTETDD的研發(fā)。還有很多理智的測試廠商更希望在LTETDD上能夠取得先機(jī),也紛紛加大最這方面的投入,令LTETDD測試儀表市場成為測試廠商追逐的焦點(diǎn)。

          “只要在LTEFDD上有所投入的廠商,都在窺視LTETDD的市場。但運(yùn)營商的對TDD儀表的市場仍需扶植。”程頤江表示,“中國移動已經(jīng)意識到測試儀表對網(wǎng)絡(luò)整體發(fā)展的關(guān)鍵作用,也已經(jīng)不斷加大投入。”

          但后續(xù)的投入能否讓LTE的發(fā)展不斷加速仍是未知數(shù)。林雪聰認(rèn)為,雖然現(xiàn)在TD的技術(shù)都有方法解決,但在實(shí)際網(wǎng)絡(luò)測試時讓需要實(shí)踐的不斷檢驗(yàn)優(yōu)化。而LTETDD很可能面臨這方面的挑戰(zhàn),而測試儀表的發(fā)展直接影響網(wǎng)絡(luò)質(zhì)量。在時間緊迫的LTE發(fā)展規(guī)劃上,運(yùn)營商對測試儀表的全力支持、培育,迅速做出反應(yīng)成為發(fā)展關(guān)鍵。


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          關(guān)鍵詞: 3G TD-LTE

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