TD-LTE規(guī)模發(fā)展受困協(xié)議測(cè)試儀表短缺

　　中國(guó)移動(dòng)舉行的TD-LTE協(xié)議測(cè)試儀表招標(biāo)工作即將落下帷幕，然而由于測(cè)試廠商提供的測(cè)試儀表不能滿(mǎn)足中國(guó)移動(dòng)的供貨時(shí)間需求或技術(shù)要求，使得招標(biāo)工作被迫流產(chǎn)。TD-LTE要想獲得規(guī)模發(fā)展，首先還需要突破測(cè)試儀表短缺的瓶頸。

　　近日，在中國(guó)移動(dòng)的牽頭下，工業(yè)和信息化部電信研究院舉行了TD-LTE協(xié)議測(cè)試儀表的招標(biāo)工作，但由于各個(gè)廠商的協(xié)議儀表產(chǎn)品并不能充分滿(mǎn)足2009年3月3GPP的R8標(biāo)準(zhǔn)，此次招標(biāo)很可能流產(chǎn)。據(jù)業(yè)內(nèi)人士透露，此次測(cè)試儀表招標(biāo)共有4家廠商入圍，安捷倫、中創(chuàng)信測(cè)、泰克和港灣分別提出了符合最近LTETDD標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)方案。但由于都不能滿(mǎn)足中國(guó)移動(dòng)的供貨時(shí)間需求或技術(shù)要求而告吹。

　　為了能夠在2010年的世博會(huì)展示富有中國(guó)特色的的TD-LTE網(wǎng)絡(luò)，中國(guó)移動(dòng)不斷加大推進(jìn)TD-LTE的進(jìn)程，“但TD-LTE協(xié)議測(cè)試儀表的遲遲不到位，嚴(yán)重阻礙了TD-LTE網(wǎng)絡(luò)的質(zhì)量。”泰克通信公司中國(guó)區(qū)銷(xiāo)售總監(jiān)程頤江表示，“LTE作為一種新技術(shù)，完全是3G技術(shù)的顛覆。最新3GPP定義的R8標(biāo)準(zhǔn)，增加了很多無(wú)線(xiàn)側(cè)的內(nèi)容，規(guī)定了LTE很多業(yè)務(wù)都必須在基站側(cè)完成，這加大了測(cè)試儀表的研發(fā)難度。”

　　新協(xié)議帶來(lái)的技術(shù)難點(diǎn)

　　羅德與施瓦茨中國(guó)區(qū)測(cè)試與測(cè)量業(yè)務(wù)發(fā)展經(jīng)理陳曉宗指出，隨著LTE產(chǎn)業(yè)在國(guó)內(nèi)的迅速發(fā)展，越來(lái)越多的公司都對(duì)LTE加大了研發(fā)的投入。而對(duì)于協(xié)議的測(cè)試又是在研發(fā)過(guò)程中不可逾越的部分，所以LTE協(xié)議測(cè)試在未來(lái)的一段時(shí)間會(huì)有較大的需求。

　　“在2009年3月的R8標(biāo)準(zhǔn)中，LTEFDD的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)增加了很多無(wú)線(xiàn)側(cè)的內(nèi)容，而這也成為T(mén)D-LTE測(cè)試儀表發(fā)展的最大障礙，”程頤江表示：“事實(shí)上，TDD和FDD的LTE技術(shù)從技術(shù)角度上來(lái)說(shuō)，核心網(wǎng)是沒(méi)有多大區(qū)別的，由于之前具有豐富的FDD-LTE儀表研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，很多測(cè)試廠商都推出了TD-LTE核心網(wǎng)的協(xié)議從測(cè)試儀表。但是在無(wú)線(xiàn)側(cè)，一方面3GPP針對(duì)LTETDD的標(biāo)準(zhǔn)尚未完善，會(huì)在LTE-A版本中進(jìn)一步規(guī)定LTEFDD的技術(shù)內(nèi)容，另外一方面，由于在技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)中增加了無(wú)線(xiàn)側(cè)的數(shù)據(jù)收集和分析功能，這不但對(duì)設(shè)備研發(fā)是一個(gè)挑戰(zhàn)，對(duì)本身測(cè)試儀表的測(cè)試也帶來(lái)了很大挑戰(zhàn)。”

　　在GSM/GPRS和UMTS等現(xiàn)有技術(shù)中，涉及網(wǎng)絡(luò)接入，包括擁塞、干擾和覆蓋問(wèn)題等一大部分可觀的信息都在有線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)接口上提供，通過(guò)使用傳統(tǒng)工具，就可以監(jiān)測(cè)這些有線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)接口。而在LTE中，情況發(fā)生了變化，因?yàn)榫W(wǎng)絡(luò)接入節(jié)點(diǎn)設(shè)計(jì)得更加智能，接入網(wǎng)絡(luò)控制功能直接轉(zhuǎn)移到了eNodeB的網(wǎng)絡(luò)邊緣上。網(wǎng)絡(luò)接入部分和核心部分間的有線(xiàn)接口不再提供關(guān)鍵的無(wú)線(xiàn)性能信息，無(wú)法確定存在哪些問(wèn)題。這意味著廠商和運(yùn)營(yíng)商被迫要直接查看空中接口，以獲得與網(wǎng)絡(luò)接入性能和服務(wù)質(zhì)量有關(guān)的信息，另外還必須能夠把這種分析簡(jiǎn)便地與其它網(wǎng)絡(luò)接口的數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)起來(lái)。

　　目前國(guó)內(nèi)外測(cè)試廠商的測(cè)試技術(shù)各有所長(zhǎng)，有些擅長(zhǎng)核心網(wǎng)測(cè)試，有些擅長(zhǎng)射頻無(wú)線(xiàn)測(cè)試，兩者都擅長(zhǎng)并有豐富經(jīng)驗(yàn)的非常少。如何解決查空中接口，獲得相關(guān)數(shù)據(jù)，進(jìn)行數(shù)據(jù)分析成為測(cè)試廠商攻克的重點(diǎn)，而這些需要將核心網(wǎng)絡(luò)和無(wú)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)相結(jié)合。

　　現(xiàn)在很多廠商都已經(jīng)推出了能夠適應(yīng)LTETDD發(fā)展的測(cè)試儀表，如安捷倫的AgilentN9080/82ALTE測(cè)量應(yīng)用軟件，它基于AgilentX系列信號(hào)分析儀，作為一款綜合解決方案可以對(duì)上行鏈路和下行鏈路進(jìn)行物理層測(cè)試。