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ProPlus首創(chuàng)整合式DFY方案
- 半導(dǎo)體制程技術(shù)持續(xù)精進，隨之而來的制程偏移(ProcessVariation)及小尺寸效應(yīng)，恐導(dǎo)致設(shè)計結(jié)果的不確定性，因此如何建立完善的統(tǒng)計模型(StatisticalModel)，同時在ICDesign的階段能夠正確地應(yīng)用統(tǒng)計模型，并且可以進行快速準確的良率分析，有效避免電路性能與良率(Yield)遭受影響，可謂當前重大課題。 回顧2012年6月落幕的DesignAutomationConference(DAC)2012大會，個中最大亮點，無疑正是ProPlus領(lǐng)先EDA業(yè)界推出的「整合良率導(dǎo)
- 關(guān)鍵字： ProPlus EDA NanoYield
基于EDA的數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)的HDB3編碼器
- 0 引言數(shù)字基帶信號的傳輸是數(shù)字通信系統(tǒng)的重要組成部分。在數(shù)字通信中，有些場合可不經(jīng)過載波調(diào)制和解調(diào)過程，而對基帶信號進行直接傳輸。采用AMI碼的信號交替反轉(zhuǎn)，有可能出現(xiàn)四連零現(xiàn)象，這不利于接收端的定時信號
- 關(guān)鍵字： HDB3 EDA 數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng) 編碼器
在射頻產(chǎn)品設(shè)計中將仿真與測量相結(jié)合
- 縮短產(chǎn)品開發(fā)周期一直以來都是研發(fā)機構(gòu)的主要目標。減少開發(fā)時間的方法之一是將設(shè)計和測試工作同步進行——即通常遵循V型圖產(chǎn)品開發(fā)模式。這種方法已經(jīng)應(yīng)用于汽車業(yè)和航空業(yè)。
- 關(guān)鍵字： NI EDA 設(shè)計和測試
基于EDA 技術(shù)（FPGA）的自動門控制系統(tǒng)設(shè)計
- 引 言門和人類文明是孿生的，它伴隨著人類文明的發(fā)展而躍動。21 世紀的今天，門更加突出了安全理念，強調(diào)了有效性：有效地防范、通行、疏散，同時還突出了建筑藝術(shù)的理念，強調(diào)門與建筑以及周圍環(huán)境整體的協(xié)調(diào)、和諧
- 關(guān)鍵字： FPGA EDA 自動門 控制系統(tǒng)設(shè)計
eda介紹
EDA技術(shù)的概念
EDA技術(shù)是在電子CAD技術(shù)基礎(chǔ)上發(fā)展起來的計算機軟件系統(tǒng)，是指以計算機為工作平臺，融合了應(yīng)用電子技術(shù)、計算機技術(shù)、信息處理及智能化技術(shù)的最新成果，進行電子產(chǎn)品的自動設(shè)計。
利用EDA工具，電子設(shè)計師可以從概念、算法、協(xié)議等開始設(shè)計電子系統(tǒng)，大量工作可以通過計算機完成，并可以將電子產(chǎn)品從電路設(shè)計、性能分析到設(shè)計出IC版圖或PCB版圖的整個過程的計算機上自動處理完成。
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