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模數(shù)轉(zhuǎn)換器工作原理、類型及主要技術(shù)指標(biāo)
- 模數(shù)轉(zhuǎn)換器工作原理、類型及主要技術(shù)指標(biāo)-模數(shù)轉(zhuǎn)換器（Analog to Digital Converter，簡(jiǎn)稱A/D轉(zhuǎn)換器，或ADC），通常是將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)字信號(hào)。作為模擬電路中重要的元器件，本文將會(huì)介紹模數(shù)轉(zhuǎn)換器的原理、分類及技術(shù)指標(biāo)等基礎(chǔ)知識(shí)。
- 關(guān)鍵字： 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 ADC 逐次?逼近型ADC
一種用于測(cè)量ADC轉(zhuǎn)換誤差率的測(cè)試方法
- 一種用于測(cè)量ADC轉(zhuǎn)換誤差率的測(cè)試方法-犯錯(cuò)乃人之常情。但對(duì)于系統(tǒng)的模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC），我們能夠提出什么樣的要求呢？我們將回顧轉(zhuǎn)換誤差率（CER）測(cè)試的范圍和高速ADC的分析。
- 關(guān)鍵字： ADC 模數(shù)轉(zhuǎn)換器
一種用于測(cè)量ADC轉(zhuǎn)換誤差率的測(cè)試方法
- 許多實(shí)際高速采樣系統(tǒng)，如電氣測(cè)試與測(cè)量設(shè)備、生命系統(tǒng)健康監(jiān)護(hù)、雷達(dá)和電子戰(zhàn)對(duì)抗等，不能接受較高的ADC轉(zhuǎn)換誤差率。這些系統(tǒng)要在很寬的噪聲頻譜上尋找極其罕見(jiàn)或極小的信號(hào)。誤報(bào)警可能會(huì)引起系統(tǒng)故障。因此，我們必須能夠量化高速ADC轉(zhuǎn)換誤差率的頻率和幅度?！ ER與BER 首先，讓我們理清誤差率描述中的兩大差異。轉(zhuǎn)換誤差率(CER)通常是ADC關(guān)于模擬電壓采樣的判斷不正確的結(jié)果，因此，與轉(zhuǎn)換器輸入的滿量程范圍相比較，其相應(yīng)的數(shù)字碼也不正確。ADC的誤碼率(BER)也能描述類似的誤差，但就我們的討論而言，
- 關(guān)鍵字： ADC
基于高性能ADC的磁共振成像發(fā)送/接收架構(gòu)
- 磁共振成像(MRI)系統(tǒng)能夠提供清晰的人體組織圖像，系統(tǒng)檢測(cè)并處理氫原子在強(qiáng)磁場(chǎng)中受到共振磁場(chǎng)激勵(lì)脈沖的激發(fā)后所生成的信號(hào)。氫原子核的自旋運(yùn)動(dòng)決定了它自身的固有磁矩，在強(qiáng)磁場(chǎng)作用下，這些氫原子將定向排
- 關(guān)鍵字： ADC 磁共振成 發(fā)送/接收架構(gòu)
利用高速信號(hào)鏈提高醫(yī)學(xué)成像質(zhì)量
- 僅僅增加傳感器和信號(hào)鏈，可能會(huì)引發(fā)包括系統(tǒng)尺寸及功耗增大在內(nèi)的不利影響。但是，用于醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)的最新一代信號(hào)鏈組件使醫(yī)療系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員既能改善信號(hào)鏈密度和功耗，同時(shí)又不影響動(dòng)態(tài)性能——即系統(tǒng)同時(shí)實(shí)現(xiàn)更高的成像質(zhì)量、更低的功耗及更小的尺寸。
- 關(guān)鍵字： 高速信號(hào)鏈 醫(yī)學(xué)成像 傳感器陣列 ADC
片上可編程系統(tǒng)在地震數(shù)據(jù)采集中的應(yīng)用
- 通過(guò)靈活配置，采用包括NiosII CPU軟核、采集控制接口、通訊接口以及數(shù)據(jù)傳輸控制模塊等一些外圍接口，配合ADC采集芯片，組成了一個(gè)具有采集控制和傳輸功能的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。通過(guò)測(cè)試和實(shí)驗(yàn)，達(dá)到了預(yù)期的設(shè)計(jì)要求?？s短了開(kāi)發(fā)周期，提高了研發(fā)的工作效率。
- 關(guān)鍵字： NiosII ADC 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
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