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結(jié)合超寬帶測距和雷達功能以實現(xiàn)高級IoT應(yīng)用 11.14珠海｜與泰克共探半導體產(chǎn)業(yè)鏈來這里瞧瞧NXP技術(shù)培訓視頻吧>> 來學習NXP基于i.MX處理器的工業(yè)解決方案吧！

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Δ-∑adc 文章進入Δ-∑adc技術(shù)社區(qū)

ADC輸出轉(zhuǎn)換采樣生成FFT圖解析

可以通過周期性地收集大量的 ADC 輸出轉(zhuǎn)換采樣來生成 FFT圖。一般而言，ADC 廠商們將一種單音、滿量程模擬輸入信號用于其產(chǎn)品說明書的典型性能曲線。您從這些轉(zhuǎn)換獲得數(shù)據(jù)，然后繪制出一幅與圖 1 相似的圖。該圖的頻
關(guān)鍵字： FFT 解析生成采樣輸出轉(zhuǎn)換 ADC

九項常被忽略的ADC技術(shù)指標

　模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的種類繁多，我們總是很難弄清哪種ADC才最適合既定應(yīng)用。數(shù)據(jù)手冊往往會使問題變得更加復雜，許多技術(shù)指標指標都以無法預料的方式影響著性能?！　∵x擇轉(zhuǎn)換器時，工程師通常只關(guān)注分辨率、信噪比(S
關(guān)鍵字：技術(shù)指標 ADC 忽略項常被

關(guān)于ADC的噪聲、ENOB及有效分辨率

ADC的一個重要趨勢是轉(zhuǎn)向更高的分辨率。這一趨勢影響著一系列的應(yīng)用，包括工廠自動化、溫度檢測，以及數(shù)據(jù)...
關(guān)鍵字： ADC 噪聲 ENOB

一種單端10-bit SAR ADC IP核的設(shè)計

摘要：本設(shè)計通過采用分割電容陣列對DAC進行優(yōu)化，在減小了D／A轉(zhuǎn)換開關(guān)消耗的能量、提高速度的基礎(chǔ)上，實現(xiàn)了一款采樣速度為1MS ／s的10-bit單端逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器。使用cadence spectre工具進行仿真，仿真結(jié)果表
關(guān)鍵字： IP 設(shè)計 ADC SAR 10-bit 單端

同時采樣ADC在DAS傳感器信號調(diào)理中的應(yīng)用及分析

引言許多高端工業(yè)應(yīng)用采用了高性能、多通道數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)(DAS)，用于處理高精度工業(yè)傳感器產(chǎn)生的實際信號，有些復雜系統(tǒng)需要使用高性能、多通道、同時采樣ADC，例如：MAX11046、MAX1320、MAX1308等。

首先，我們考
關(guān)鍵字： ADC DAS 采樣傳感器

差分信號共模電壓ADC輸入電路設(shè)計及分析

隨著ADC的供電電壓的不斷降低，輸入信號擺幅的不斷降低，輸入信號的共模電壓的精確控制顯得越來越重要。交流耦合輸入相對比較簡單，而直流耦合輸入就比較復雜。　　典型的例子是正交下變頻(混頻器)輸出到ADC輸入的電
關(guān)鍵字： ADC 差分信號共模電壓電路設(shè)計

模數(shù)轉(zhuǎn)換ADC0804的應(yīng)用實例(含源程序及電路)

模數(shù)轉(zhuǎn)換ADC0804的應(yīng)用(含源程序及電路)[實驗要求]從ADC0804 的模擬量通道輸入0－5V 之間的模擬量，通過ADC0804 轉(zhuǎn)換成數(shù)字量送給單片機，經(jīng)單片機處理后在數(shù)碼管上以十進制形成顯示出來。[實驗?zāi)康腯學習如果用單片機
關(guān)鍵字： 0804 ADC 模數(shù)轉(zhuǎn)換電路

高性能/多通道ADC在數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)(DAS)中的應(yīng)用

高性能、多通道、同時采樣ADC在數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)(DAS)中的設(shè)計摘要：本文將幫助設(shè)計人員實現(xiàn)高性能、多通道、同時采樣的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)(DAS)。介紹了元器件的合理選擇及其PCB布線，以優(yōu)化系統(tǒng)性能。Maxim的MAX1308、MAX132
關(guān)鍵字： DAS 應(yīng)用系統(tǒng) 數(shù)據(jù)采集通道 ADC 高性能

開關(guān)電源（DC/DC轉(zhuǎn)換器）真的會降低ADC的性能嗎

工程師一般認為開關(guān)電源會降低ADC的性能，因此通常愿意選用低壓差(LDO)線性穩(wěn)壓器，而不使用開關(guān)穩(wěn)壓器，但這種認識并非完全正確。LDO具有較低的紋波和噪聲指標，但最近的研究表明，高效的開關(guān)穩(wěn)壓器也可用于一些轉(zhuǎn)換
關(guān)鍵字： ADC 性能降低真的 DC/DC 轉(zhuǎn)換器開關(guān)電源

電壓參考對ADC和DAC的副作用

您可能會把模數(shù)轉(zhuǎn)換器或者數(shù)模轉(zhuǎn)換器缺少輸出穩(wěn)定性的原因歸咎于實際轉(zhuǎn)換器本身。畢竟，這類器件都非常復雜。但是，請不要太早下結(jié)論，因為轉(zhuǎn)換器周圍的電路或許才是真正的罪魁禍首。這種電路包括一個電壓參考，它對
關(guān)鍵字： ADC DAC 電壓參考

STM32 ADC的采樣周期確定

一 STM32 ADC 采樣頻率的確定先看一些資料，確定一下STM32 ADC 的時鐘：(1)，由時鐘控制器提供的ADCCLK 時鐘和PCLK2(APB2 時鐘)同步。CLK 控制器為ADC 時鐘提供一個專用的可編程預分頻器。(2)一般情況下在程序中將
關(guān)鍵字： STM ADC 32 采樣

ADC性能提高的建議

雖然ADC看起來非常簡單，但它們必須正確使用才能獲得最優(yōu)的性能。ADC具有與簡單模擬放大器相同的性能限制，比如有限增益、偏置電壓、共模輸入電壓限制和諧波失真等。ADC的采樣特性需要我們更多地考慮時鐘抖動和混疊。
關(guān)鍵字： ADC 性能

電壓參考對ADC/DAC混合信號部分的影響

您可能會把模數(shù)轉(zhuǎn)換器或者數(shù)模轉(zhuǎn)換器缺少輸出穩(wěn)定性的原因歸咎于實際轉(zhuǎn)換器本身。畢竟，這類器件都非常復雜。但是，請不要太早下結(jié)論，因為轉(zhuǎn)換器周圍的電路或許才是真正的罪魁禍首。這種電路包括一個電壓參考，它對
關(guān)鍵字： ADC DAC 電壓參考混合信號

用于低噪聲CMOS圖像傳感器的流水線ADC設(shè)計及其成像驗證

摘要：在對低噪聲CMOS圖像傳感器的研究中，除需關(guān)注其噪聲外，目前數(shù)字化也是它的一個重要的研究和設(shè)計方向，設(shè)計了一種可用于低噪聲CMOS圖像傳感器的12 bit，10 Msps的流水線型ADC，并基于0．5mu;m標準CMOS工藝進行
關(guān)鍵字： ADC 設(shè)計及其驗證流水線傳感器噪聲 CMOS 圖像用于

基于STC12C5410AD設(shè)計10位高精度ADC

摘要：在此主要基于機內(nèi)測試技術(shù)實際需求，為了能夠?qū)崿F(xiàn)監(jiān)測點模擬信號的提取和轉(zhuǎn)換，設(shè)計了模數(shù)轉(zhuǎn)換器。運用STC12C5410AD芯片，設(shè)計了ADC硬件，同時為了達到快速穩(wěn)定的性能，軟件設(shè)計運用了滑動濾波算法。實現(xiàn)了模擬
關(guān)鍵字： ADC 高精度設(shè)計 STC12C5410AD 基于

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