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《NI自動(dòng)化測試趨勢展望2015》帶您全面了解影響測試和測量行業(yè)的關(guān)鍵技術(shù)和方法

　　NI (美國國家儀器公司，National Instruments，簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來應(yīng)對全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商， NI近期發(fā)發(fā)布了《自動(dòng)化測試趨勢展望2015》，重點(diǎn)闡述了該公司對最新測試和測量技術(shù)方法的研究成果，總結(jié)了將會(huì)影響許多行業(yè)的技術(shù)發(fā)展趨勢。工程師和經(jīng)理們可借助該報(bào)告，為您進(jìn)行重要的技術(shù)和商業(yè)決策提供信息依據(jù)。　　《自動(dòng)化測試趨勢展望2015》包含了以下內(nèi)容：　　商業(yè)戰(zhàn)略：混合方法測試　　基于商業(yè)現(xiàn)成技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)化測試設(shè)備正在重塑多個(gè)行業(yè)
關(guān)鍵字： NI 5G

NI能否解決SDR設(shè)計(jì)挑戰(zhàn) 且看市場接受度如何

　　這次NI似乎是有備而來。針對SDR(軟體定義無線電)所推出的LabVIEW communications，就意義上，很明顯就是為了無線通訊系統(tǒng)所打造的專屬版本。
關(guān)鍵字： NI SDR

基于LabWindows／CVI的舵機(jī)負(fù)載模擬系統(tǒng)設(shè)計(jì)

　　地面半物理仿真試驗(yàn)是飛機(jī)設(shè)計(jì)與研制過程中不可或缺的一個(gè)環(huán)節(jié)，用于在地面環(huán)境對飛機(jī)的工作狀態(tài)進(jìn)行模擬，以驗(yàn)證飛機(jī)的各項(xiàng)性能是否滿足設(shè)計(jì)需要，該環(huán)節(jié)對保障飛機(jī)的安全性與可靠性具有重要意義。　　舵機(jī)是飛機(jī)自動(dòng)駕駛儀或飛機(jī)增穩(wěn)系統(tǒng)中的執(zhí)行機(jī)構(gòu)，屬于飛機(jī)的關(guān)鍵部件。在飛機(jī)地面半物理仿真試驗(yàn)中，需要在地面環(huán)境中模擬舵機(jī)在全飛行剖面中所受到的氣動(dòng)載荷，進(jìn)而為整機(jī)提供與實(shí)際飛行相近似的工作狀態(tài)，以檢驗(yàn)舵機(jī)及其他部、組件的性能，并為全機(jī)研制、改進(jìn)與改型提供重要參考依據(jù)。　　因此，舵機(jī)負(fù)載模擬是地面半實(shí)物仿真試驗(yàn)
關(guān)鍵字： NI LabWindows

基于Multisim的實(shí)用技巧和應(yīng)用設(shè)計(jì)文獻(xiàn)匯總

　　Multisim是美國國家儀器(NI)有限公司推出的以Windows為基礎(chǔ)的仿真工具，適用于板級的模擬/數(shù)字電路板的設(shè)計(jì)工作。它包含了電路原理圖的圖形輸入、電路硬件描述語言輸入方式，具有豐富的仿真分析能力。　　借助Multisim 10仿真的負(fù)反饋放大電路　　本文借助Multisim 10的仿真平臺(tái)，用Multisim仿真分析阻容耦合負(fù)反饋放大電路，研究加入負(fù)反饋后對放大電路放大倍數(shù)和電路參數(shù)的影響，比較幅頻和相頻的變化，對研究設(shè)計(jì)帶負(fù)反饋的放大電路具有深遠(yuǎn)的現(xiàn)實(shí)意義。　　基于Multis
關(guān)鍵字： NI PCB

基于LabVIEW的數(shù)控機(jī)床網(wǎng)及汽車儀表檢測儀設(shè)計(jì)文獻(xiàn)匯總

　　LabVIEW是一種程序開發(fā)環(huán)境，由美國國家儀器(NI)公司研制開發(fā)，類似于C和BASIC開發(fā)環(huán)境，但是LabVIEW與其他計(jì)算機(jī)語言的顯著區(qū)別是：其他計(jì)算機(jī)語言都是采用基于文本的語言產(chǎn)生代碼，而LabVIEW使用的是圖形化編輯語言G編寫程序，產(chǎn)生的程序是框圖的形式。 LabVIEW軟件是NI設(shè)計(jì)平臺(tái)的核心，也是開發(fā)測量或控制系統(tǒng)的理想選擇。　　基于LabVIEW的數(shù)控機(jī)床網(wǎng)絡(luò)測控系統(tǒng)——總體設(shè)計(jì) (一) 　　基于LabVIEW的數(shù)控機(jī)床網(wǎng)絡(luò)測控系統(tǒng)—&mda
關(guān)鍵字： NI RS232 USB

《NI自動(dòng)化測試趨勢展望2015》帶您全面了解影響測試和測量行業(yè)的關(guān)鍵技術(shù)和方法

　　NI (美國國家儀器公司，National Instruments，簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來應(yīng)對全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商， NI近期發(fā)發(fā)布了《自動(dòng)化測試趨勢展望2015》，重點(diǎn)闡述了該公司對最新測試和測量技術(shù)方法的研究成果，總結(jié)了將會(huì)影響許多行業(yè)的技術(shù)發(fā)展趨勢。工程師和經(jīng)理們可借助該報(bào)告，為您進(jìn)行重要的技術(shù)和商業(yè)決策提供信息依據(jù)。　　《自動(dòng)化測試趨勢展望2015》包含了以下內(nèi)容：　　商業(yè)戰(zhàn)略：混合方法測試　　基于商業(yè)現(xiàn)成技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)化測試設(shè)備正在重塑多個(gè)行業(yè)
關(guān)鍵字： NI 處理器

權(quán)威調(diào)查（七）：軟件是促成更多客戶使用FPGA的原因

　　Xilinx亞太區(qū)銷售及市場副總裁楊飛在2014歲末如此總結(jié)：以前FPGA廠商的目標(biāo)是填補(bǔ)ASIC和ASSP空白，現(xiàn)在我們說取代ASIC、ASSP，而我們現(xiàn)在要做的就是，不僅是硬件，還有軟件方面，讓系統(tǒng)級的架構(gòu)工程師和軟件編程工程師也能夠直接使用FPGA?！　ilinx亞太區(qū)銷售及市場副總裁楊飛　　因?yàn)镕PGA到今天為止，從來不乏風(fēng)險(xiǎn)投資公司的介入，但是三十多年以來，初創(chuàng)企業(yè)總是做不成、長不大，根本原因和最大挑戰(zhàn)不是說FPGA公司是硬件公司，因?yàn)槲覀兏臼且患腋丬浖墓?。FPGA就是把硬件變成軟件
關(guān)鍵字： Xilinx FPGA NI

NI助力中科院東莞散裂中子源實(shí)現(xiàn)智能工業(yè)控制

　　NI(美國國家儀器公司，National Instruments，簡稱NI)作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來應(yīng)對全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，近日宣布與中國散裂中子源在東莞共同成立“智能工業(yè)控制技術(shù)實(shí)驗(yàn)室”。NI將為中國大物理前沿科學(xué)研究領(lǐng)域提供智能工業(yè)控制、機(jī)器視覺、高速信號處理等技術(shù)和平臺(tái)，與中國散裂中子源合作共同提升在高能物理科學(xué)研究領(lǐng)域及大型科學(xué)裝置的開發(fā)及控制效率，以應(yīng)對更加嚴(yán)苛的挑戰(zhàn)。　　此聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室的研究范圍包括高精度時(shí)間同步網(wǎng)絡(luò)、智能控制、機(jī)器視覺、
關(guān)鍵字： NI 工業(yè)控制

NI中國榮登“2014大中華區(qū)最佳職場”榜單

　　全球著名的職場研究認(rèn)證機(jī)構(gòu) —— 卓越職場研究所(Great Place to Work® Institute)在上海雅樂居萬豪酒店舉辦了大中華區(qū) “最佳職場”(Best Companies to Work For®)榜單頒獎(jiǎng)典禮，美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)榮登“2014大中華區(qū)最佳職場”榜單。這次獲獎(jiǎng)足以證明NI中國長期以來一直在努力為員工營造良好的工作環(huán)境并創(chuàng)造卓
關(guān)鍵字： NI LabVIEW

工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)風(fēng)潮興　開放式軟硬體設(shè)計(jì)平臺(tái)身價(jià)漲

　　工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)(IIoT)應(yīng)用商機(jī)蓬勃。包含空氣污染、食品安全、智慧交通、遠(yuǎn)端醫(yī)療、資訊化教育、智慧工廠等領(lǐng)域都可透過物聯(lián)網(wǎng)的布建，達(dá)到降低能耗/營運(yùn)成本、提升操作效率等目標(biāo)，因此工業(yè)界正興起一波建立物聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用模式的風(fēng)潮;而為了加速工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)系統(tǒng)建立，以軟體定義的硬體設(shè)計(jì)平臺(tái)正挾著開放式、易于編程的優(yōu)勢快速崛起。　　美商國家儀器臺(tái)灣區(qū)總經(jīng)理林沛彥表示，工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)成形的要素之一，即是開放式的軟硬體設(shè)計(jì)平臺(tái)。　　美商國家儀器(NI)臺(tái)灣區(qū)總經(jīng)理林沛彥表示，單看東亞地區(qū)，可以發(fā)現(xiàn)包括中國大陸、臺(tái)灣、日本
關(guān)鍵字：物聯(lián)網(wǎng) NI LabVIEW

NIDays 2014全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)盛會(huì)中國站圓滿落幕

　　美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)2014年度“NIDays全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)盛會(huì)”中國站于11月14日在北京萬達(dá)索菲特大酒店圓滿落幕。圍繞“You and NI Will”這一主題，本屆NIDays打造了一場分享與交流的技術(shù)盛會(huì)，聚焦合作伙伴、客戶與NI一起在不同行業(yè)的成功應(yīng)用，啟迪未來的項(xiàng)目實(shí)踐，加速應(yīng)用創(chuàng)新。活動(dòng)共吸引了近六百余位來自不同行業(yè)的工程師和二十多家行業(yè)媒體參加。　　全天的活動(dòng)以NI東亞地區(qū)副總
關(guān)鍵字： NI 矢量信號分析儀示波器

NI 與南京航空航天大學(xué)能源與動(dòng)力學(xué)院合作建立大學(xué)生創(chuàng)新中心

　　2014 年 11 月 7 日，美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)與南京航空航天大學(xué)(以下簡稱南航)能源與動(dòng)力學(xué)院合作建立的“圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)大學(xué)生創(chuàng)新中心”(以下簡稱“創(chuàng)新中心”)舉行了揭牌儀式。儀式由能源與動(dòng)力學(xué)院動(dòng)力工程系副主任張?zhí)旌杲淌谥鞒?，能源與動(dòng)力學(xué)院院長陳偉教授， NI 南京地區(qū)銷售經(jīng)理胡嘉偉先生、NI華東華南區(qū)大學(xué)計(jì)劃代表李甫成先生共同為聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室揭牌。　　　　南航一直十分
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Mouser攜手NI打造MultiSIM BLUE 助力設(shè)計(jì)速度提升

　　貿(mào)澤電子(Mouser Electronics) 宣布在全球同步發(fā)布Mouser版NI Multisim元件評估器- MultiSIM BLUE。全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體和電子元器件分銷商Mouser推出的此最新全能電路仿真工具功能強(qiáng)大，不僅集成了PCB布局與物料清單(BOM)，還支持設(shè)計(jì)、仿真、PCB設(shè)計(jì)、BOM導(dǎo)出及采購功能。　　　　工程師可從Mouser網(wǎng)站免費(fèi)下載MultiSIM BLUE，以在創(chuàng)建物理原型前設(shè)計(jì)并仿真電路。通過與NI合作，MultiSIM BLUE新增了多
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貿(mào)澤電子全新免費(fèi)設(shè)計(jì)工具M(jìn)ultiSIM Blue本月榮耀上市

　　半導(dǎo)體與電子元器件業(yè)頂尖工程設(shè)計(jì)資源與全球授權(quán)分銷商貿(mào)澤電子(Mouser Electronics)日前宣布，將于本月與美國國家儀器(NI)合作推出Mouser版PCB設(shè)計(jì)工具M(jìn)ultiSIM BLUE。該設(shè)計(jì)工具目前支持中、英、德三種語言。　　全新版本的PCB設(shè)計(jì)工具采用Berkeley SPICE引擎，初始元件庫可提供10萬多款Mouser數(shù)據(jù)庫中最常見元器件，實(shí)時(shí)BOM報(bào)價(jià)和元器件供應(yīng)信息使設(shè)計(jì)創(chuàng)作更為高效。MultiSIM BLUE支持布局前設(shè)計(jì)收斂分析、間距低至0.8mm的1000+引腳
關(guān)鍵字：貿(mào)澤電子 NI MultiSIM BLUE

NI半導(dǎo)體測試系統(tǒng) 開啟ATE測試新未來

　　如果你想要對半導(dǎo)體芯片設(shè)計(jì)和測試的新動(dòng)向有所了解，這無疑是個(gè)非常合適的地方。9月3日至9月5日，NationalInstruments又將發(fā)布新的半導(dǎo)體測試儀。這次的發(fā)布依然端莊大氣，場合是在2014SEMICONTaiwan國際半導(dǎo)體展上。
關(guān)鍵字： NI 半導(dǎo)體測試