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SOC芯片設計與測試
- 摘要：SOC已經(jīng)成為集成電路設計的主流。SOC測試變得越來越復雜，在設計時必須考慮DFT和DFM。本文以一SOC單芯片系統(tǒng)為例，在其設計、測試和可制造性等方面進行研究，并詳細介紹了SOC測試解決方案及設計考慮。 關(guān)鍵詞：單芯片系統(tǒng)；面向測試設計；面向制造設計；位失效圖；自動測試設備 引言 以往的系統(tǒng)設計是將CPU，DSP，PLL，ADC，DAC或Memory等電路設計成IC后，再加以組合變成完整的系統(tǒng)，但現(xiàn)今的設計方式是
- 關(guān)鍵字： SOC 單芯片系統(tǒng) 面向測試設計 面向制造設計 位失效圖 自動測試設備
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