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信號(hào)去嵌測(cè)試
信號(hào)去嵌測(cè)試 文章 進(jìn)入信號(hào)去嵌測(cè)試技術(shù)社區(qū)
利用新一代虛擬探測(cè)功能實(shí)現(xiàn)DDR等信號(hào)去嵌測(cè)試
- 一、內(nèi)存測(cè)試中的難點(diǎn)內(nèi)存廣泛應(yīng)用于各類電子產(chǎn)品中，內(nèi)存測(cè)試也是產(chǎn)品測(cè)試中的熱點(diǎn)和難點(diǎn)。內(nèi)存測(cè)試中最為關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)目為DQ/DQS/CLK之間的時(shí)序關(guān)系。JEDEC規(guī)范規(guī)定測(cè)量這幾個(gè)信號(hào)之間的時(shí)序時(shí)測(cè)試點(diǎn)需要選擇在靠
- 關(guān)鍵字： 虛擬探測(cè) DDR 信號(hào)去嵌測(cè)試
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信號(hào)去嵌測(cè)試介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條信號(hào)去嵌測(cè)試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)信號(hào)去嵌測(cè)試的理解，并與今后在此搜索信號(hào)去嵌測(cè)試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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