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          安捷倫推出用于測(cè)試850nm多模電-光元器件的光波元器件分析儀

          • 安捷倫科技公司日前展示了旗下最新型光波元器件分析儀(LCA)――業(yè)界首款用于測(cè)試850 nm目標(biāo)波長(zhǎng)的元器件的分析儀。Agilent N4376B LCA為最好地表征主要光元器件的頻率響應(yīng)樹立了新標(biāo)準(zhǔn)。它專為測(cè)試高速電信網(wǎng)絡(luò)和計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)中的10 Gb以太網(wǎng)和光纖通道元器件而設(shè)計(jì),具有業(yè)界領(lǐng)先的多功能性、測(cè)量速度和可靠性。 這款LCA可以降低測(cè)試成本,加快開發(fā)速度,解決目前在LAN/SAN、高速芯片互連和光學(xué)背板等方面的挑戰(zhàn)。 新型Agilent N4376
          • 關(guān)鍵字: 安捷倫  測(cè)量  測(cè)試  分析儀  光波元器件  元件  制造  
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          光波元器件介紹

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