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分層測(cè)試
分層測(cè)試 文章 進(jìn)入分層測(cè)試技術(shù)社區(qū)
基于分層測(cè)試的Virtex系列FPGA互聯(lián)資源測(cè)試新方法
- 以基于靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器(SRAM)的現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)為例，在傳統(tǒng)的三次測(cè)試方法的基礎(chǔ)上提出了一種新穎的針對(duì)FPGA互聯(lián)資源的測(cè)試方法。該方法運(yùn)用了層次化的思想，根據(jù)開關(guān)矩陣中可編程互聯(lián)點(diǎn)(PIP)兩端連線資源的區(qū)別將互聯(lián)資源進(jìn)行層次化分類，使得以這種方式劃分的不同類別的互聯(lián)資源能夠按一定方式進(jìn)行疊加測(cè)試，這就從根本上減少了實(shí)際需要的測(cè)試配置圖形和最小配置次數(shù)。
- 關(guān)鍵字： 互聯(lián)資源 分層測(cè)試 FPGA
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分層測(cè)試介紹
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