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          SoC設(shè)計(jì)流程中的功耗管理

          • 如果不考慮功率問題,會(huì)導(dǎo)致器件性能低于預(yù)期,進(jìn)而使得器件良率下降。此外,較高的功耗會(huì)要求在溫度管理方面采取更多的系統(tǒng)級(jí)措施。總而言之,這些功率問題正在造成SoC和系統(tǒng)成本的增加。在SoC設(shè)計(jì)流程中進(jìn)行功耗管理,能夠有效控制這些成本。
          • 關(guān)鍵字: 功率管理  功耗分析  SoC  

          突破性新工具助力實(shí)現(xiàn)電池更長的充電間隔時(shí)間

          •   目前,我們使用的每種電子設(shè)備幾乎都存在一個(gè)最令人關(guān)注的問題,那就是其供電能力。我們希望自己的智能手機(jī)、電腦、電動(dòng)工具和可穿戴健身設(shè)備的功耗更低,從而延長它們的續(xù)航時(shí)間。正是出于這個(gè)原因,德州儀器(TI)為那些在其電子產(chǎn)品中采用了TI MSP430?微控制器(MCU)的工程師們推出了能確切知道設(shè)備哪些地方耗電以及如何耗電的新技術(shù)?! ∵@項(xiàng)新技術(shù)被稱為EnergyTrace++?,是一種功耗分析系統(tǒng)。一般來說,工程師在運(yùn)行其設(shè)備的MCU中查找“漏洞”需要花費(fèi)很多時(shí)間。在運(yùn)行系統(tǒng)的軟件中,這些漏洞或微小的誤
          • 關(guān)鍵字: 電池  充電  EnergyTrace  功耗分析  

          一種針對(duì)DES密碼芯片的CPA攻擊仿真設(shè)計(jì)方案

          • 摘要:為研究密碼芯片抗功耗分析性能,構(gòu)造了一個(gè)功耗分析研究平臺(tái),結(jié)合DES算法在平臺(tái)上進(jìn)行了相關(guān)性功耗...
          • 關(guān)鍵字: 功耗分析  仿真平臺(tái)  DES  密碼芯片  

          利用Astro-Rail分析FFT芯片的功耗和電源完整性

          • 摘要:本文介紹如何使用Synopsys公司的Astro-Rail工具對(duì)采用SMIC 0.18mm CMOS工藝、已完成布局布線的FFT芯片進(jìn)行功耗分析、電壓降分析和電遷移分析。通過在電壓降圖和電遷移圖中用不同的顏色來顯示不同區(qū)域的電壓降和電遷移情況,可判斷出最有可能出現(xiàn)問題的區(qū)域。文中利用功耗分析證明了電源和地PAD對(duì)的數(shù)目符合要求,利用電壓降分析和電遷移圖證明了電源環(huán)和電源條的布置符合工藝要求。關(guān)鍵詞:快速傅立葉變換;集成電路;功耗分析;電壓降;電遷移 引言Astro-Rail工具為芯片設(shè)計(jì)提供了在設(shè)
          • 關(guān)鍵字: 嵌入式系統(tǒng)  單片機(jī)  快速傅立葉變換  集成電路  功耗分析  電壓降  電源  
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          功耗分析介紹

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