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          EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 功能測(cè)試

          中規(guī)模集成電路功能測(cè)試儀的設(shè)計(jì)

          • 設(shè)計(jì)了一款針對(duì)學(xué)校實(shí)驗(yàn)室常用的中規(guī)模集成電路芯片的功能測(cè)試儀。測(cè)試儀的核心AT89C55單片機(jī)管理和控制整個(gè)測(cè)試流程,對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行處理、判斷,并通過(guò)LCD、LED顯示和指示其測(cè)試結(jié)果。詳細(xì)介紹了測(cè)試儀的總體設(shè)計(jì)思
          • 關(guān)鍵字:   集成電路  功能測(cè)試  儀的設(shè)計(jì)    

          基于PXI和LabVIEW的FCT功能測(cè)試系統(tǒng)

          • 挑戰(zhàn):通過(guò)PXI控制板卡和LabVIEW軟件,構(gòu)建一套比較完整齊全的PCB板的功能測(cè)試(FCT)系統(tǒng),利用該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)...
          • 關(guān)鍵字: NI  LabVIEW  PXI  FCT  功能測(cè)試  

          掛式空調(diào)器用控制板的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)研究

          • 本文介紹了掛式空調(diào)器用控制板在生產(chǎn)過(guò)程中采用專(zhuān)門(mén)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)過(guò)程,詳細(xì)說(shuō)明了掛式空調(diào)器用控制板主要功能測(cè)試所用到的硬件電路和軟件結(jié)構(gòu),對(duì)研究線路板自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)有借鑒意義。
          • 關(guān)鍵字: 測(cè)試儀  在線測(cè)試  功能測(cè)試  上位機(jī)  201005  

          中規(guī)模集成電路功能測(cè)試儀的設(shè)計(jì)方案

          • 集成電路的測(cè)試技術(shù)隨著集成電路開(kāi)發(fā)應(yīng)用的飛速發(fā)展而發(fā)展。集成電路測(cè)試儀也從最初測(cè)試小規(guī)模集成電路發(fā)展到測(cè)試中規(guī)模、大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路。集成電路測(cè)試儀按測(cè)試門(mén)類(lèi)可分為:數(shù)字集成電路測(cè)試儀、存儲(chǔ)器測(cè)
          • 關(guān)鍵字:   集成電路  功能測(cè)試  方案    

          懸掛式汽車(chē)電子油門(mén)踏板功能測(cè)試系統(tǒng)

          • 針對(duì)歐Ⅲ標(biāo)準(zhǔn)對(duì)電子油門(mén)踏板的新技術(shù)要求,設(shè)計(jì)了一套性能穩(wěn)定的懸掛式電子油門(mén)踏板功能測(cè)試系統(tǒng)。選用高精度伺服電機(jī)、伺服驅(qū)動(dòng)器、行星減速機(jī)以及配套的運(yùn)動(dòng)控制卡和數(shù)據(jù)采集卡,實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)高速同步采集以及對(duì)伺服電機(jī)運(yùn)動(dòng)的精確控制。利用LabVIEW圖形化開(kāi)發(fā)環(huán)境編寫(xiě)主控程序,實(shí)現(xiàn)了無(wú)縫集成;設(shè)計(jì)了專(zhuān)門(mén)的數(shù)據(jù)分析軟件,能夠?qū)y(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計(jì)算,從而對(duì)踏板性能做出判斷。該系統(tǒng)已在電子油門(mén)生產(chǎn)廠家投入使用,結(jié)果表明該系統(tǒng)性能穩(wěn)定可靠。
          • 關(guān)鍵字: 汽車(chē)  電子油門(mén)  功能測(cè)試  系統(tǒng)    

          一種系統(tǒng)芯片的功能測(cè)試方法

          • 本文通過(guò)對(duì)“成電之芯”功能測(cè)試平臺(tái)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn),闡述了一種基于可編程邏輯器件的系統(tǒng)芯片功能測(cè)試平臺(tái)的建立。本文從系統(tǒng)芯片的測(cè)試評(píng)估出發(fā),一步步深入系統(tǒng)芯片測(cè)試方法分析,最終實(shí)現(xiàn)一個(gè)完整的測(cè)試平臺(tái)。
          • 關(guān)鍵字: 方法  功能測(cè)試  芯片  系統(tǒng)  

          安捷倫推出CDMA呼叫等待/保持功能測(cè)試

          •   高通公司最新推出的1xEV-DO 版本A協(xié)議標(biāo)準(zhǔn),能夠支持更快的數(shù)據(jù)傳輸速率以適應(yīng)更廣泛的無(wú)線多媒體等數(shù)據(jù)服務(wù)的需求。其前向鏈路數(shù)據(jù)傳輸速率最高達(dá)3.1Mbps,在反向鏈路上高達(dá)1.8 Mbps。        安捷倫8960 1xEV-DO測(cè)試應(yīng)用(Test Application)和實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用(Lab Application)軟件是目前市場(chǎng)上唯一支持1xEV-DO 版本A手機(jī)測(cè)試并被高通公司認(rèn)可的綜測(cè)儀。對(duì)于
          • 關(guān)鍵字: CDMA  安捷倫科技  測(cè)量  測(cè)試  功能測(cè)試  呼叫保持  呼叫等待  通訊  網(wǎng)絡(luò)  無(wú)線  消費(fèi)電子  移動(dòng)終端  消費(fèi)電子  

          功能測(cè)試提升電信IT系統(tǒng)投資回報(bào)率

          •   毫無(wú)疑問(wèn),嚴(yán)格的功能測(cè)試是決定電信企業(yè)應(yīng)用開(kāi)發(fā)成功與否的關(guān)鍵。對(duì)于電信企業(yè)的開(kāi)發(fā)人員、QA小組和經(jīng)理們來(lái)說(shuō),面臨著如何在緊縮的預(yù)算下,加快測(cè)試流程的速度、提升測(cè)試的正確性和完整性的挑戰(zhàn)。通過(guò)對(duì)功能測(cè)試的關(guān)鍵組成部分實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化,企業(yè)可以趕上發(fā)布進(jìn)度,更全面、更可靠地展開(kāi)測(cè)試,正確驗(yàn)證業(yè)務(wù)流程功能,并以出色的在線運(yùn)作能力,最終贏得更高的收益和更高的客戶(hù)滿意度。   功能測(cè)試將確保應(yīng)用的正常運(yùn)行——達(dá)到用戶(hù)所期望的運(yùn)行水平。功能測(cè)試以實(shí)用的方式來(lái)捕獲用戶(hù)需求,確保業(yè)務(wù)流程能滿足用戶(hù)和開(kāi)發(fā)人員的需求,使QA小
          • 關(guān)鍵字: 測(cè)量  測(cè)試  功能測(cè)試  

          功能測(cè)試:基本概念與技術(shù)

          •   盡管各種新技術(shù)層出不窮,如光學(xué)與X射線檢查、基于飛針或針床的電性測(cè)試等,但功能測(cè)試依然是保證產(chǎn)品到最終應(yīng)用環(huán)境立刻就能工作必不可少的手段?,F(xiàn)代電子產(chǎn)品中內(nèi)置自測(cè)(BIST)應(yīng)用越來(lái)越多,這應(yīng)該大力提倡,因?yàn)樗山档凸δ軠y(cè)試的成本,但也不能完全消除功能測(cè)試。如果應(yīng)用的場(chǎng)合非常重要(如軍事、航空、汽車(chē)、交通、醫(yī)療等領(lǐng)域),或者最終產(chǎn)品的成本及復(fù)雜程度(如電信網(wǎng)絡(luò)、發(fā)電站等)非常高,那么更需要保證產(chǎn)品自身以及與其它系統(tǒng)合在一起時(shí)工作正常,這時(shí)功能測(cè)試將是必須的。 什么是功能測(cè)試   功能測(cè)試涉及模擬、數(shù)字、
          • 關(guān)鍵字: 測(cè)量  測(cè)試  功能測(cè)試  
          共24條 2/2 « 1 2

          功能測(cè)試介紹

          黑盒測(cè)試(Black-box Testing,又稱(chēng)為功能測(cè)試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試)是把測(cè)試對(duì)象看作一個(gè)黑盒子。利用黑盒測(cè)試法進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)試時(shí),需要測(cè)試軟件產(chǎn)品的功能,不需測(cè)試軟件產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和處理過(guò)程。 采用黑盒技術(shù)設(shè)計(jì)測(cè)試用例的方法有:等價(jià)類(lèi)劃分、邊界值分析、錯(cuò)誤推測(cè)、因果圖和綜合策略。 黑盒測(cè)試注重于測(cè)試軟件的功能性需求,也即黑盒測(cè)試使軟件工程師派生出執(zhí)行程序所有 [ 查看詳細(xì) ]

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