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          采用綜合學(xué)科研究法有效封裝MEMS加速儀(二)

          • A. 常規(guī)應(yīng)力分析常規(guī)應(yīng)力分析用于確定不同封裝階段存在高應(yīng)力的位置。假設(shè)芯片邊緣沒(méi)有缺陷。圖3顯示了感 ...
          • 關(guān)鍵字: MEMS  加速儀  

          采用綜合學(xué)科研究法有效封裝MEMS加速儀(一)

          • 摘要微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)封裝的重要性與日俱增,在MEMS產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)成功的商業(yè)化過(guò)程中發(fā)揮了重要作用。封裝系統(tǒng)應(yīng)由M ...
          • 關(guān)鍵字: MEMS  加速儀  

          采用綜合法封裝MEMS加速儀

          • MEMS封裝系統(tǒng)應(yīng)有MEMS執(zhí)行感應(yīng)功能,而且還要避免受到外界環(huán)境的影響,同時(shí)持續(xù)地改進(jìn)質(zhì)量,達(dá)到較高的ppm性能。本文采用SOIC封裝,必須維持一個(gè)特定的共振頻率,從而防止傳感器被粘住或卡住。同時(shí),封裝必須確保傳感器是可靠和完整的,沒(méi)有出現(xiàn)斷裂或輸出偏差。本文采用一種綜合學(xué)科研究方法,以確定合適的固晶材料來(lái)徹底解決器件斷裂的問(wèn)題。這種方法涉及振動(dòng)分析、電氣響應(yīng)測(cè)定、壓力分析和斷裂力學(xué)。
          • 關(guān)鍵字: 飛思卡爾  MEMS  加速儀  201111  
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          加速儀介紹

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