EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
半導(dǎo)體電子束檢測(cè)
半導(dǎo)體電子束檢測(cè) 文章 進(jìn)入半導(dǎo)體電子束檢測(cè)技術(shù)社區(qū)
瞄準(zhǔn)16/14nm檢測(cè)需求 漢微科明年產(chǎn)能翻三倍
- 半導(dǎo)體電子束檢測(cè)(E-beam Inspection)設(shè)備龍頭漢微科正全速擴(kuò)產(chǎn)。繼28和20奈米(nm)之后，2015年晶圓代工廠紛紛跨入16或14奈米鰭式電晶體(FinFET)世代，對(duì)高解析度的電子束檢測(cè)設(shè)備需求將更加強(qiáng)勁，因而帶動(dòng)漢微科提早展開(kāi)布局，將于2013～2014年投入新臺(tái)幣10億元擴(kuò)建新廠房，并于2014下半年正式投產(chǎn)，挹注三倍設(shè)備產(chǎn)能。 漢微科財(cái)務(wù)長(zhǎng)李學(xué)寒表示，自2012年開(kāi)始，晶圓代工業(yè)者已逐步在28奈米先進(jìn)制程中導(dǎo)入高階電子束晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備，以克服電晶體密度大幅微縮后，傳統(tǒng)
- 關(guān)鍵字： 漢微科 半導(dǎo)體電子束檢測(cè)
| 共1條 1/1 1 |
半導(dǎo)體電子束檢測(cè)介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條半導(dǎo)體電子束檢測(cè)!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)半導(dǎo)體電子束檢測(cè)的理解，并與今后在此搜索半導(dǎo)體電子束檢測(cè)的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)半導(dǎo)體電子束檢測(cè)的理解，并與今后在此搜索半導(dǎo)體電子束檢測(cè)的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473