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盡可能提高測(cè)試系統(tǒng)利用效率的三種策略
- 增加自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的吞吐量可以提高效率。使用例如多核處理器、PCI Express、現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列（FPGA）以及NI LabVIEW軟件等成品工具（COTS），可以建立并行處理和并行測(cè)量系統(tǒng)，從而能夠在最短的時(shí)間內(nèi)測(cè)試單一被測(cè)單元（UUT）。并行測(cè)試明顯地降低了總測(cè)試次數(shù)，并且提高了儀器利用率（見圖1），但是開發(fā)并行測(cè)試系統(tǒng)的復(fù)雜性是很高的。開發(fā)自己的測(cè)試管理軟件，并且實(shí)現(xiàn)一次對(duì)多個(gè)被測(cè)單元進(jìn)行測(cè)試要求對(duì)并行編程和多線程的深入理解。 無(wú)需從零開發(fā)定制的并行測(cè)試系統(tǒng)的另一種方法是使用成品測(cè)試管
- 關(guān)鍵字： 多核處理器 編程 軟件 單元 線程
嵌入式Flash Memory Cell技術(shù)
- 1概述隨著數(shù)碼時(shí)代的來(lái)臨，除了PC外，越來(lái)越多的數(shù)碼信息產(chǎn)品正在或即將進(jìn)入我們的家庭：移動(dòng)電話、掌...
- 關(guān)鍵字： 非揮發(fā)性 存儲(chǔ) 結(jié)構(gòu) 單元 設(shè)計(jì) NOR 發(fā)射
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