單粒子效應(yīng) 文章 進(jìn)入單粒子效應(yīng)技術(shù)社區(qū)
SRAM型FPGA單粒子效應(yīng)試驗(yàn)研究
- 針對(duì)軍品級(jí)SRAM型FPGA的單粒子效應(yīng)特性,文中采用重離子加速設(shè)備,對(duì)Xilinx公司Virtex-II系列可重復(fù)編程FPGA中一百萬門的XQ2V1000進(jìn)行輻射試驗(yàn)。試驗(yàn)中,被測(cè)FPGA單粒子翻轉(zhuǎn)采用了靜態(tài)與動(dòng)態(tài)兩種測(cè)試方式。并且通過單粒子功能中斷的測(cè)試,研究了基于重配置的單粒子效應(yīng)減緩方法。試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)被測(cè)FPGA對(duì)單粒子翻轉(zhuǎn)與功能中斷都較為敏感,但是在注入粒子LET值達(dá)到42MeV.cm2/mg時(shí)仍然對(duì)單粒子鎖定免疫。
- 關(guān)鍵字： 單粒子效應(yīng) 重離子加速設(shè)備 FPGA
一種FPGA單粒子軟錯(cuò)誤檢測(cè)電路設(shè)計(jì)
- 摘要：分析了FPGA器件發(fā)生單粒子效應(yīng)的空間分布特性，設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了一種面向FPGA單粒子軟錯(cuò)誤的檢測(cè)電路。將該電路放置在FPCA待檢測(cè)電路的附近，利
- 關(guān)鍵字： FPGA 空間分布特性 單粒子效應(yīng) 軟錯(cuò)誤 檢測(cè)電路
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單粒子效應(yīng)介紹
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