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參數(shù)分析儀
參數(shù)分析儀 文章 進(jìn)入?yún)?shù)分析儀技術(shù)社區(qū)
【泰克干貨分享】閃爍噪聲的監(jiān)測(cè)，詳解用SCS參數(shù)分析儀測(cè)試1/f噪聲
- 電子器件會(huì)有不同類型的噪聲源，包括熱噪聲、白噪聲和1/f噪聲。1/f噪聲是低頻電子噪聲，其電流（ISD）或功率（PSD）頻譜密度與頻率成反比，見(jiàn)下圖典型噪聲譜，前面是1/f噪聲，大小和頻率相反，后面是白噪聲，均勻分布。由于1/f噪聲反映了器件的質(zhì)量、可靠性等參數(shù) , 其研究越來(lái)越為人們所重視。 1/f噪聲測(cè)試為確定器件的1/f噪聲，我們通常要測(cè)量電流相對(duì)于時(shí)間的關(guān)系，然后通過(guò)快速傅立葉變換（FFT）把數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換到頻域。為保證準(zhǔn)確性，儀器本身噪聲必須小于DUT噪聲，所以測(cè)試方案推薦使用能測(cè)試極小電流的4200
- 關(guān)鍵字： 泰克 閃爍噪聲 參數(shù)分析儀 測(cè)試1/f噪聲
4200A-CVIV多開(kāi)關(guān)使測(cè)試時(shí)間縮短30倍
- 泰克高性能4200A-SCS 是一個(gè)模塊化、可定制、高度一體化的參數(shù)分析儀，可同時(shí)進(jìn)行電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 電學(xué)測(cè)試。
- 關(guān)鍵字： 泰克 4200A-SCS 模塊化 參數(shù)分析儀
全新參數(shù)分析儀降低特性分析復(fù)雜度，加快獲得信息的速度
- 全球領(lǐng)先的測(cè)量解決方案提供商——泰克科技公司日前推出可以量身定制的全面集成的Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀，通過(guò)降低新用戶或偶爾使用的用戶面臨的特性分析復(fù)雜度，簡(jiǎn)化測(cè)試設(shè)置，提供清楚精確的結(jié)果，加快了用戶獲得半導(dǎo)體器件、材料和工藝洞察力的速度。 Keithley 4200-SCS參數(shù)分析儀已經(jīng)取得了巨大的成功，在此基礎(chǔ)上，新推出的4200A-SCS儀器采用現(xiàn)代工業(yè)設(shè)計(jì)，擁有全新圖形用戶界面及多種自學(xué)工具，如儀器內(nèi)嵌的專家指導(dǎo)視頻。其結(jié)果，是測(cè)試設(shè)置時(shí)間縮短
- 關(guān)鍵字： 泰克 參數(shù)分析儀
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參數(shù)分析儀介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條參數(shù)分析儀!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)參數(shù)分析儀的理解，并與今后在此搜索參數(shù)分析儀的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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