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	可靠性測試
          

          
	
          
    	
          
    	  	
          
              	
                                
          
                  

                                
          
                    
          Hold住嗎?最強(qiáng)LED照明可靠性測試詳解!
          
                                                            
            
                    	
          • 作為光源中的新興力量，led的發(fā)光方式與傳統(tǒng)光源截然不同。它是利用半導(dǎo)體PN節(jié)中的電子與空穴的復(fù)合來發(fā)光。...
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          • 關(guān)鍵字：
                        Hold  LED照明  可靠性測試                          
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          硅片級可靠性測試詳解
          
                                                            
            
                    	
          • 　引言　　硅片級可靠性（WLR）測試最早是為了實現(xiàn)內(nèi)建（BIR）可靠性而提出的一種測試手段。硅片級可靠性測試的最 ...
            • 
                    	                        
          • 關(guān)鍵字：
                        硅片級  可靠性測試  詳解                          
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          晶圓級可靠性測試:器件開發(fā)的關(guān)鍵步驟（二）
          
                                                            
            
                    	
          • 可靠性測試儀器的發(fā)展趨勢　　就像前文所指出的那樣，可靠性測試需要與新器件的設(shè)計和新材料的使用密切關(guān)聯(lián) ...
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          • 關(guān)鍵字：
                        晶圓級  可靠性測試  器件開發(fā)                          
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          晶圓級可靠性測試:器件開發(fā)的關(guān)鍵步驟（一）
          
                                                            
            
                    	
          • 摘要 隨著器件尺寸的持續(xù)減小，以及在器件的制造中不斷使用新材料，對晶圓級可靠性測試的要求越來越高。在器件 ...
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          • 關(guān)鍵字：
                        晶圓級  可靠性測試                          
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          用實例分析硬件可靠性測試設(shè)計
          
                                                            
            
                    	
          • 從硬件角度出發(fā)，可靠性測試分為兩類：　　以行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或者國家標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)的可靠性測試。比如電磁兼容試驗、氣候類環(huán)境試驗、機(jī)械類環(huán)境試驗和安規(guī)試驗等?！　∑髽I(yè)自身根據(jù)其產(chǎn)品特點(diǎn)和對質(zhì)量的認(rèn)識所開發(fā)的測試項目
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          • 關(guān)鍵字：
                        實例  分析  可靠性測試  硬件                            
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          LED電源可靠性測試指標(biāo)及規(guī)范
          
                                                            
            
                    	
          • 1、描述輸入電壓影響輸出電壓的幾個指標(biāo)形式⑴穩(wěn)壓系數(shù)① 絕對穩(wěn)壓系數(shù)K表示負(fù)載不變時，穩(wěn)壓 ...
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          • 關(guān)鍵字：
                        LED  電源  可靠性測試                          
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          LED電源可靠性測試指標(biāo)及規(guī)范詳解
          
                                                            
            
                    	
          • 1、描述輸入電壓影響輸出電壓的幾個指標(biāo)形式⑴穩(wěn)壓系數(shù)①絕對穩(wěn)壓系數(shù)K表示負(fù)載不變時，穩(wěn)壓...
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          • 關(guān)鍵字：
                        LED電源  可靠性測試  指標(biāo)                          
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          WLR測試中所面臨的新挑戰(zhàn)
          
                                                            
                                        
            
                    	
          • 　　就像摩爾定律驅(qū)動半導(dǎo)體幾何尺寸的縮小一樣，有關(guān)解決半導(dǎo)體可靠性問題的活動也遵循一個似乎有點(diǎn)可以預(yù)測的周期。例如，技術(shù)演進(jìn)到VLSI時，為了保持導(dǎo)線的電路速度，引入了鋁線連接。此時，很快就發(fā)現(xiàn)了電子遷移這類的可靠性問題。一旦發(fā)現(xiàn)了問題所在，就會通過實驗來對退化機(jī)制進(jìn)行建模。利用這些模型，工藝工程師努力使新技術(shù)的可靠性指標(biāo)達(dá)到最佳。隨著技術(shù)的進(jìn)一步成熟，焦點(diǎn)轉(zhuǎn)移到缺陷的降低上面。而隨著ULSI的引入，由于使用了應(yīng)力硅、銅和低K介電材料等，又開始一輪新周期。
　　隨著引入的化合物材料的增加，可靠性方面的挑
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          • 關(guān)鍵字：
                        半導(dǎo)體  VLS  可靠性測試  晶體管                          
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          利用LabVIEW和IMAQ 進(jìn)行光電設(shè)備的可靠性測試
          
                                                            
            
                    	
          • 為了對某光電設(shè)備進(jìn)行可靠性試驗，需要由光應(yīng)力源、電應(yīng)力源、光具工作臺、振動試驗臺、光度測量設(shè)備和監(jiān)測與記錄部分等組成可靠性試驗系統(tǒng)。
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          • 關(guān)鍵字：
                        LabVIEW  IMAQ  光電設(shè)備  可靠性測試                            
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	共9條
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          可靠性測試介紹
          
      			
          
		      	
          
		      			      			      	您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條可靠性測試!
           
		      	歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對可靠性測試的理解，并與今后在此搜索可靠性測試的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條
		      			      	
          
    		
          
  		
          
  		  		  		  		  		            
        		  		
          
    		
          
      			
          
        			
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