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存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)
存儲(chǔ)器數(shù)據(jù) 文章 進(jìn)入存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)技術(shù)社區(qū)
淺析存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)的軟誤差率(SER)問(wèn)題
- 軟誤差率(SER)問(wèn)題是于上個(gè)世紀(jì)70年代后期作為一項(xiàng)存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)課題而受到人們的廣泛關(guān)注的，當(dāng)時(shí)DRAM開(kāi)始呈現(xiàn)出隨機(jī)故障的征兆。隨著工藝幾何尺寸的不斷縮小，引起失調(diào)所需的臨界電荷的減少速度要比存儲(chǔ)單元中的電荷聚
- 關(guān)鍵字： SER 存儲(chǔ)器數(shù)據(jù) 軟誤差
AT24系列存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)串并轉(zhuǎn)換接口的IP核設(shè)計(jì)
- 介紹用VHDL語(yǔ)言設(shè)計(jì)該存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)串并轉(zhuǎn)換接口的IP核，從而通過(guò)硬件（FPGA或其他可編程芯片）實(shí)現(xiàn)AT24系列存儲(chǔ)器與8位微處理器之間的并行通信。
- 關(guān)鍵字： AT 24 存儲(chǔ)器數(shù)據(jù) 串并轉(zhuǎn)換
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存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)的理解，并與今后在此搜索存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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