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          EEPW首頁 >> 主題列表 >> 安全散列算法(sha-1)器件

          LED照明器件與系統(tǒng)設(shè)計(jì)因素關(guān)系分析

          • 一 前言  設(shè)計(jì)者們給發(fā)光二極管—LED和陣列作光源設(shè)計(jì)的供電電源,稱之為LED電子驅(qū)動(dòng)器。對(duì)于LED照明器件和系統(tǒng)而言,LED光源本身就是其電子封裝組成的一部分。這種給LED陣列提供能源并對(duì)其進(jìn)行控制的電子驅(qū)動(dòng)
          • 關(guān)鍵字: 因素  關(guān)系  分析  設(shè)計(jì)  系統(tǒng)  照明  器件  LED  

          用于計(jì)算應(yīng)用的占位面積優(yōu)化功率器件

          • I.概述 本文將:. 總結(jié)針對(duì)計(jì)算應(yīng)用的典型同步降壓調(diào)節(jié)器負(fù)載設(shè)計(jì)規(guī)范;Tjcn、負(fù)載電流、DC和瞬態(tài)調(diào)節(jié). 簡單概述帶來典型的每相20 - 30 A電流的因素;工作頻率、瞬態(tài)響應(yīng)和效率. 解釋三要素概念=>額定輸出電流由三個(gè)
          • 關(guān)鍵字: 優(yōu)化  功率  器件  面積  占位  計(jì)算  應(yīng)用  用于  

          PROTEL DXP如何創(chuàng)建原理圖器件(二)

          • 添加電路仿真模型電路仿真用的SPICE 模型文件(.ckt and .mdl)存放在AltiumLibrary路徑里的集成庫文件中。如果你希望在你的設(shè)計(jì)上進(jìn)行電路仿真分析,你就需要加入這些模型。如果你要將這些仿真模型用到你的庫元件中
          • 關(guān)鍵字: PROTEL  DXP  原理圖  器件    

          PROTEL DXP如何創(chuàng)建原理圖器件(一)

          • 介紹了使用PROTEL DXP 的庫編輯器創(chuàng)建原理圖器件和PCB 封裝。這個(gè)指南假設(shè)你能理解如何在原理圖及PCB 環(huán)境中工作并且具有擺放及編輯器件的能力。你可以在AltiumExamples utorials 路徑中找到指南中的例子中使用到的器
          • 關(guān)鍵字: PROTEL  DXP  原理圖  器件    

          功率邏輯器件在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用分析

          • 嵌入式可編程控制器及其I/O模塊為較合理地解決目前可編程邏輯控制器.html target=_blank>控制器自身的軟硬件分配,以及與上位機(jī)通信協(xié)調(diào)工作中存在的問題,結(jié)合外掛式和虛擬式的優(yōu)點(diǎn),本文基于ISA總線技術(shù)自行開發(fā)
          • 關(guān)鍵字: 功率邏輯  分析  器件  嵌入式系統(tǒng)    

          存儲(chǔ)器件軟誤差解決方案

          • 軟誤差是半導(dǎo)體器件中無法有意再生的“干擾”(即數(shù)據(jù)丟失)。它是由那些不受設(shè)計(jì)師控制的外部因素所引起的,包括alpha;粒子、宇宙射線和熱中子。許多系統(tǒng)能夠容忍一定程度的軟誤差。例如,如果為音頻、視
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          基于VHDL語言對(duì)高速A/D器件TLC5510控制的實(shí)現(xiàn)

          • 基于VHDL語言對(duì)高速A/D器件TLC5510控制的實(shí)現(xiàn),--TLC5510 VHDL控制程序  --文件名:TLC5510.vhd  --功能:基于VHDL語言,實(shí)現(xiàn)對(duì)高速A/D器件TLC5510控制  --最后修改日期:2004.3.20  library ieee;  use ieee.std_logic_1164.all;  entity tlc5510 is
          • 關(guān)鍵字: TLC5510  控制  實(shí)現(xiàn)  器件  A/D  VHDL  語言  高速  基于  

          低功耗器件的“設(shè)計(jì)時(shí)測試”方法

          • 在65nm制造工藝條件下,依靠電池供電的器件正在大量出現(xiàn)。這種先進(jìn)的工藝技術(shù)使得新器件較前代工藝的同類器件具有很多改進(jìn)。采用65nm工藝之后,設(shè)計(jì)人員可以在一塊單獨(dú)的裸片上集成遠(yuǎn)多于過去的晶體管,還可以在器件
          • 關(guān)鍵字: 低功耗  測試  器件  計(jì)時(shí)    

          飛兆新近擴(kuò)展重啟定時(shí)器產(chǎn)品系列

          • 隨著技術(shù)的發(fā)展,消費(fèi)者越來越多地利用便攜設(shè)備處理業(yè)務(wù)和私人事務(wù)。由于這些便攜設(shè)備中構(gòu)建了眾多的基礎(chǔ)架構(gòu)系統(tǒng),擁有能夠快速解決系統(tǒng)鎖死的簡單方案是至關(guān)重要的。飛兆半導(dǎo)體公司(Fairchild Semiconductor)新近擴(kuò)展重啟定時(shí)器產(chǎn)品系列,能夠?yàn)楸銛y設(shè)備鎖死問題提供更好的解決方案。
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          ESD保護(hù)手機(jī)器件pcb設(shè)計(jì)

          • 目前普遍接受的關(guān)鍵ESD保護(hù)電壓水平約為500V。在這一水平,芯片成本增加得較合理,良率水平也不會(huì)受到損害。這是因?yàn)榈湫偷木A廠和裝配車間有將ESD限制在500V或以下的政策。目前業(yè)內(nèi)最常見的板級(jí)ESD保護(hù)器件主要有以
          • 關(guān)鍵字: pcb  設(shè)計(jì)  器件  手機(jī)  保護(hù)  ESD  

          LED芯片/器件封裝缺陷的非接觸檢測技術(shù)

          • 摘要:為了在大批量封裝生產(chǎn)線上對(duì)LED的封裝質(zhì)量進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測,利用LED具有與PD類似的光伏效應(yīng)的特點(diǎn),導(dǎo)出了LED芯片/器件封裝質(zhì)量與光生電流之間的關(guān)系,并根據(jù)LED封裝工藝過程的特點(diǎn),研制了LED封裝質(zhì)量非接觸檢測
          • 關(guān)鍵字: 非接觸  檢測技術(shù)  缺陷  封裝  芯片  器件  LED  

          基于集成芯片MC34152和CMOS邏輯器件的軟開關(guān)變換器驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)

          • 在高頻PWM開關(guān)變換器中,為保證功率MOSFET在高頻、高壓、大電流下工作,要設(shè)計(jì)可靠的柵極驅(qū)動(dòng)電路。一個(gè)性能良好的驅(qū)動(dòng)電路要求觸發(fā)脈沖應(yīng)具有足夠快的上升和下降速度,脈沖前后沿要陡峭;驅(qū)動(dòng)源的內(nèi)阻要足夠小、電流
          • 關(guān)鍵字: 開關(guān)  變換器  驅(qū)動(dòng)  電路設(shè)計(jì)  器件  邏輯  集成  芯片  MC34152  

          Microsemi推出系統(tǒng)管理設(shè)計(jì)工具

          • 致力于提供幫助功率管理、安全、可靠與高性能半導(dǎo)體技術(shù)產(chǎn)品的領(lǐng)先供應(yīng)商美高森美公司(Microsemi Corporation,紐約納斯達(dá)克交易所代號(hào):MSCC) 推出一套用于高可用性有線和無線通信基礎(chǔ)設(shè)施設(shè)備的系統(tǒng)與功率管理設(shè)計(jì)工具。新設(shè)計(jì)工具包括美高森美混合信號(hào)功率管理工具(Mixed Signal Power Manager,MPM) 4.0參考設(shè)計(jì),支持多達(dá)64個(gè)電源軌和混合模擬與數(shù)字負(fù)載點(diǎn)(point-of-loads,POL),以及基于PMBus?的通信。美高森美還提供了可用于Microsemi
          • 關(guān)鍵字: 美高森美  器件  MPM 4.0  

          選用磁性器件中磁芯的設(shè)計(jì)原理

          • 開關(guān)電源中使用的磁性器件較多,其中常用的軟磁器件有:作為開關(guān)電源核心器件的主變壓器(高頻功率變壓器)、共模扼流圈、高頻磁放大器、濾波阻流圈、尖峰信號(hào)抑制器等。不同的器件對(duì)材料的性能要求各不相同,如表所示
          • 關(guān)鍵字: 原理  設(shè)計(jì)  器件  磁性  選用  

          針對(duì)未來十年 “All Programmable”器件的顛覆之作

          • 歷經(jīng)四年的開發(fā)和一年的試用版本測試,賽靈思可編程顛覆之作 Vivado 設(shè)計(jì)套件終于震撼登場,并通過其早期試用計(jì)劃開始向客戶隆重推出。新的工具套件面向未來十年 “All Programmable”器件而精心打造, 致力于加速其設(shè)計(jì)生產(chǎn)力。
          • 關(guān)鍵字: 賽靈思  器件  Vivado  
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          安全散列算法(sha-1)器件介紹

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