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容錯(cuò)測(cè)試
容錯(cuò)測(cè)試 文章 進(jìn)入容錯(cuò)測(cè)試技術(shù)社區(qū)
高速PCI信號(hào)采集卡設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)綜合實(shí)例之：產(chǎn)品穩(wěn)定性和可靠性測(cè)試
- 完成一個(gè)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)后和初步調(diào)試后，就可以對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行完整的測(cè)試流程。一般來(lái)說(shuō)，對(duì)產(chǎn)品需要進(jìn)行下面一些測(cè)試，通過(guò)測(cè)試后才能對(duì)產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性得出一個(gè)結(jié)論。
- 關(guān)鍵字： 高速PCI信號(hào)采集卡 容錯(cuò)測(cè)試 容限測(cè)試 FPGA
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容錯(cuò)測(cè)試介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條容錯(cuò)測(cè)試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)容錯(cuò)測(cè)試的理解，并與今后在此搜索容錯(cuò)測(cè)試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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