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          EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 容錯(cuò)

          解析WSN的芯片技術(shù)及解決方案

          • 由許多感測(cè)節(jié)點(diǎn)所構(gòu)成的WSN(無線感測(cè)網(wǎng)路),可各種環(huán)境需求來設(shè)置。而為了長(zhǎng)期運(yùn)作,大多采用低功耗與節(jié)電設(shè)計(jì),必要時(shí)再搭配能源采集的功能,讓運(yùn)作時(shí)間更長(zhǎng)久。而在感測(cè)資料的搜集與傳遞部份,除感測(cè)器必須量測(cè)精準(zhǔn),各節(jié)點(diǎn)之間的資料傳輸也必須力求通暢,并具有容錯(cuò)能力。
          • 關(guān)鍵字: RFID  WSN  MEMS  容錯(cuò)  無線感測(cè)網(wǎng)路  

          大型數(shù)據(jù)存儲(chǔ)中心高智能容錯(cuò)雙總線系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案

          • 1 概述大型數(shù)據(jù)中心存儲(chǔ)中心機(jī)房專門為核心數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)保存,確保數(shù)據(jù)萬(wàn)無一失,地理位置相對(duì)偏僻安全,不容易發(fā)現(xiàn),預(yù)計(jì)機(jī)柜500架,每個(gè)機(jī)架規(guī)劃容量按4kVA計(jì)算,實(shí)際使用容量2.5kW。為保證數(shù)據(jù)存儲(chǔ)中心機(jī)房?jī)?nèi)所有
          • 關(guān)鍵字: 總線  系統(tǒng)  設(shè)計(jì)  方案  容錯(cuò)  智能  數(shù)據(jù)  存儲(chǔ)  中心  大型  

          網(wǎng)絡(luò)存儲(chǔ)系統(tǒng)容錯(cuò)編碼技術(shù)進(jìn)展

          • 摘要:專業(yè)的大型磁盤存儲(chǔ)系統(tǒng)均發(fā)展為包含多塊磁盤的大型陣列系統(tǒng)。隨著系統(tǒng)中的磁盤數(shù)目的不斷增加,由磁盤失效引起的數(shù)據(jù)丟失的可能性越來越大。對(duì)于由存儲(chǔ)系統(tǒng)中部分磁盤失效所引起的數(shù)據(jù)丟失的問題,目前業(yè)界公
          • 關(guān)鍵字: 技術(shù)  進(jìn)展  編碼  容錯(cuò)  存儲(chǔ)  系統(tǒng)  網(wǎng)絡(luò)  

          臺(tái)達(dá)高智能、容錯(cuò)UPS的發(fā)展趨勢(shì)

          • 摘要:人們對(duì)UPS需求的改變引導(dǎo)著UPS不斷地發(fā)展變化,現(xiàn)階段智能、容錯(cuò)是UPS的發(fā)展趨勢(shì)關(guān)鍵詞:智能 容錯(cuò) 海福 HIFTAbstract:Keyword:縱觀UPS的發(fā)展歷史,由動(dòng)態(tài)到靜態(tài)、由工頻到高頻、由低指標(biāo)到高性能 hellip;
          • 關(guān)鍵字: 發(fā)展  趨勢(shì)  UPS  容錯(cuò)  智能  達(dá)高  

          單相正弦波逆變器容錯(cuò)控制研究

          • 摘要:介紹了一種具有容錯(cuò)能力的單相正弦波逆變系統(tǒng)。在診斷單相正弦波逆變器功率開關(guān)觸發(fā)脈沖丟失故障的基礎(chǔ)上,對(duì)故障后電路采用主動(dòng)容錯(cuò)控制策略,將電路拓?fù)溥M(jìn)行重構(gòu),使單相正弦波逆變器在功率開關(guān)觸發(fā)脈沖丟失
          • 關(guān)鍵字: 研究  控制  容錯(cuò)  逆變器  單相  

          一種超低功耗、容錯(cuò)的靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器設(shè)計(jì)

          • 摘要:為了減輕輻射環(huán)境中靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器(SRAM)受單粒子翻轉(zhuǎn)(SEU)的影響以及解決低功耗和穩(wěn)定性的問題,采用TSMC 90 nm工藝,設(shè)計(jì)了一款可應(yīng)用于輻射環(huán)境中的超低功耗容錯(cuò)靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器。該SRAM基于雙互鎖存儲(chǔ)單元(
          • 關(guān)鍵字: 超低功耗  容錯(cuò)  隨機(jī)存    

          容錯(cuò)系統(tǒng)中的自校驗(yàn)技術(shù)及實(shí)現(xiàn)方法

          • 容錯(cuò)系統(tǒng)中的自校驗(yàn)技術(shù)及實(shí)現(xiàn)方法,摘要:闡述了自校驗(yàn)技術(shù)在容錯(cuò)系統(tǒng)中的作用,給出了自校驗(yàn)網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)原理及實(shí)現(xiàn)方法,指出用VHDL語(yǔ)言結(jié)合FPGA/CPLD是實(shí)現(xiàn)大規(guī)模自校驗(yàn)網(wǎng)絡(luò)的有效途徑。關(guān)鍵詞:容錯(cuò)自校驗(yàn)完全自校驗(yàn)VHDLFPGA/CPLD容錯(cuò)是容忍錯(cuò)誤的簡(jiǎn)稱
          • 關(guān)鍵字: 實(shí)現(xiàn)  方法  技術(shù)  校驗(yàn)  系統(tǒng)  容錯(cuò)  

          嵌入式雙機(jī)容錯(cuò)實(shí)時(shí)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

          • 嵌入式雙機(jī)容錯(cuò)實(shí)時(shí)系統(tǒng)的設(shè)計(jì),容錯(cuò)實(shí)時(shí)系統(tǒng)的研究主要集中在兩個(gè)方面:① 改進(jìn)實(shí)時(shí)調(diào)度算法,使之確保實(shí)時(shí)任務(wù)在正常運(yùn)行和遇到錯(cuò)誤時(shí),均能在規(guī)定時(shí)限到來以前獲得正確的輸出。② 將過去應(yīng)用于普通計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中的冗余容錯(cuò)策略移植到實(shí)時(shí)系統(tǒng)中。
          • 關(guān)鍵字: 系統(tǒng)  設(shè)計(jì)  實(shí)時(shí)  容錯(cuò)  雙機(jī)  嵌入式  

          基于動(dòng)態(tài)可重構(gòu)FPGA的容錯(cuò)技術(shù)研究

          • 摘要:針對(duì)重構(gòu)文件的大小、動(dòng)態(tài)容錯(cuò)時(shí)隙的長(zhǎng)短、實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜性、模塊間通信方式、冗余資源的比例與布局等關(guān)鍵問題進(jìn)行了分析。并對(duì)一些突出問題,提出了基于算法和資源多級(jí)分塊的解決方法,闡述了新方法的性能,及其
          • 關(guān)鍵字: FPGA  動(dòng)態(tài)可重構(gòu)  容錯(cuò)  技術(shù)研究    

          基于FPGA的三模冗余容錯(cuò)技術(shù)研究

          • 摘要:基于SRAM的FPGA對(duì)于空間粒子輻射非常敏感,很容易產(chǎn)生軟故障,所以對(duì)基于FPGA的電子系統(tǒng)采取容錯(cuò)措施以防止此類故障的出現(xiàn)是非常重要的。三模冗余(TMR)方法以其實(shí)現(xiàn)的簡(jiǎn)單性和效果的可靠性而被廣泛用于對(duì)單粒子
          • 關(guān)鍵字: FPGA  三模冗余  容錯(cuò)  技術(shù)研究    

          單點(diǎn)溫度保護(hù)系統(tǒng)的容錯(cuò)邏輯設(shè)計(jì)

          • 為了提高溫度保護(hù)系統(tǒng)的可靠性,在溫度保護(hù)的邏輯設(shè)計(jì)中可采用容錯(cuò)設(shè)計(jì),即盡可能考慮測(cè)溫環(huán)節(jié)在運(yùn)行中容易出現(xiàn)的故障,并通過預(yù)先設(shè)置的邏輯措施來識(shí)別錯(cuò)誤的溫度信號(hào),以防保護(hù)系統(tǒng)誤動(dòng)。
          • 關(guān)鍵字: 溫度保護(hù)  容錯(cuò)  邏輯設(shè)計(jì)  系統(tǒng)    
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