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PXI射頻模塊儀表在手機(jī)生產(chǎn)測(cè)試上的應(yīng)用

• 　　如今的手機(jī)生產(chǎn)測(cè)試面臨越來(lái)越復(fù)雜的環(huán)境，一邊是多種頻段和多制式的挑戰(zhàn)，一邊是生產(chǎn)測(cè)試速度的壓力，同時(shí)還面臨測(cè)試成本的壓力。確定手機(jī)射頻參數(shù)和功能檢驗(yàn)測(cè)試的合適的深度和廣度是比較復(fù)雜的，它需要我們隨著生產(chǎn)線的變化，產(chǎn)品本身的成熟度的提升不斷尋找平衡點(diǎn)。射頻校準(zhǔn)在整個(gè)生產(chǎn)流程中，它是一個(gè)增加產(chǎn)品價(jià)值的步驟，它的測(cè)試要求直接與產(chǎn)品的設(shè)計(jì)有關(guān)。 生產(chǎn)測(cè)試流程 　　這里的生產(chǎn)測(cè)試不包括PCB（印刷電路板）生產(chǎn)，當(dāng)PCB投入到手機(jī)組裝線上時(shí)，生產(chǎn)測(cè)試流程開(kāi)始，由此手機(jī)將經(jīng)歷5個(gè)操作步驟： 　　&midd
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