嵌入式測試 文章 進(jìn)入嵌入式測試技術(shù)社區(qū)
Tektronix攜手NI將在推出聯(lián)合產(chǎn)品創(chuàng)新計(jì)劃
- 泰克公司和美國國家儀器有限公司日前宣布，將繼續(xù)拓展雙方超過20年的合作伙伴關(guān)系，進(jìn)一步推出創(chuàng)新協(xié)作計(jì)劃，共同開發(fā)多項(xiàng)創(chuàng)新產(chǎn)品，以幫助從事設(shè)計(jì)驗(yàn)證、制造測試、科學(xué)研究和嵌入式測試的工程師和科學(xué)家有效提高效率，同時降低成本。兩家公司將于8月4日到6日在德克薩斯州奧斯汀市舉辦的NIWeek 2009年會上公布具體合作細(xì)節(jié)。 根據(jù)2009年度EDN “工程師行為(Mind of the Engineer)”調(diào)查結(jié)果顯示，近兩年來，由于經(jīng)濟(jì)衰退，電子設(shè)計(jì)工程師面臨的挑戰(zhàn)正進(jìn)一步加劇
- 關(guān)鍵字： NI LabVIEW 嵌入式測試
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嵌入式測試介紹
嵌入式軟件測試/嵌入式測試或叫交叉測試（cross-test）的日的與非嵌入式軟件是相同的。但是，在嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)中，軟件正越來越多地取代硬件，以降低系統(tǒng)的成本，獲得更大的靈活性，這就需要使用更好的測試方法和工具進(jìn)行嵌入式和實(shí)時軟件的測試。 通常嵌入式系統(tǒng)對可靠性的要求比較高。嵌入式系統(tǒng)安全性的失效可能會導(dǎo)致災(zāi)難性的后果，即使是非安全性系統(tǒng)，由于大批量生產(chǎn)也會導(dǎo)致嚴(yán)重的經(jīng)濟(jì)損失。這就要求對嵌入式系 [ 查看詳細(xì) ]
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