并行測(cè)試文章進(jìn)入并行測(cè)試技術(shù)社區(qū)

一種創(chuàng)新的晶圓級(jí)熱載子并行測(cè)試方法

引言
隨著VLSI集成度的日益提高，MOS器件尺寸不斷縮小至亞微米乃至深亞微米，熱載子效應(yīng)已成為最嚴(yán)重的可靠性問題之一?，F(xiàn)今,為了降低成本,減少周期,不斷的提高工藝,晶圓級(jí)的器件可靠性測(cè)試愈來(lái)愈被廣泛的應(yīng)用。縱觀
關(guān)鍵字：創(chuàng)新并行測(cè)試晶圓級(jí) 方法

美國(guó)吉時(shí)利（Keithley）儀器公司（NYSE代碼：KEI）日前發(fā)布面向S600系列參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的Keithley交互式測(cè)試平臺(tái)軟件KTE V5.2版。KTE V5.2所具備的多種功能大大提高了前沿電路材料測(cè)試的吞吐量（如RF頻率測(cè)試），并增強(qiáng)了研發(fā)和生產(chǎn)過程中所涉及的并行測(cè)試能力。此外，經(jīng)過升級(jí)的KTE V5.2軟件還大大增強(qiáng)了易用性、簡(jiǎn)化了測(cè)試工作。最新發(fā)布的KTE軟件傳承了吉時(shí)利（Keithley）不斷改進(jìn)測(cè)試平臺(tái)和增強(qiáng)固定設(shè)備重用性方面的一貫承諾，將助于測(cè)試工程師
關(guān)鍵字： Keithley RF測(cè)試功能并行測(cè)試參數(shù)測(cè)試軟件測(cè)量測(cè)試軟件易用性升級(jí)版測(cè)試測(cè)量

吉時(shí)利（Keithley）儀器公司（NYSE代碼：KEI）日前發(fā)布面向S600系列參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的Keithley交互式測(cè)試平臺(tái)軟件KTE V5.2版。KTE V5.2所具備的多種功能大大提高了前沿電路材料測(cè)試的吞吐量（如RF頻率測(cè)試），并增強(qiáng)了研發(fā)和生產(chǎn)過程中所涉及的并行測(cè)試能力。此外，經(jīng)過升級(jí)的KTE V5.2軟件還大大增強(qiáng)了易用性、簡(jiǎn)化了測(cè)試工作。最新發(fā)布的KTE軟件傳承了吉時(shí)利（Keithley）不斷改進(jìn)測(cè)試平臺(tái)和增強(qiáng)固定設(shè)備重用性方面的一貫承諾，將助于測(cè)試工程師們降
關(guān)鍵字： Keithley RF測(cè)試功能并行測(cè)試參數(shù)測(cè)試軟件測(cè)量測(cè)試軟件易用性測(cè)試測(cè)量

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